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龙图腾网恭喜深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利一种光学检测装置及信噪比估算方法、缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114354651B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111629210.3，技术领域涉及：G01N21/956；该发明授权一种光学检测装置及信噪比估算方法、缺陷检测方法是由陈鲁;方一;黄有为;张嵩设计研发完成，并于2021-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学检测装置及信噪比估算方法、缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种光学检测装置及信噪比估算方法、缺陷检测方法，其中光学检测装置包括转台、光源、探测器和处理器，处理器根据转台的转速信号适配噪声干扰的评估模型，根据探测器的电信号和或探测参数确定评估模型的输入参数，将输入参数输入评估模型以计算得到信噪比，以及根据信噪比判断待检测物体的表面被检测光照射的区域是否存在缺陷。技术方案建立了与待检测物体的转速适配的噪声干扰评估模型，则结合获取的输入参数就容易计算得到光学检测装置的信噪比，不仅能够提升不同转速或检测模式下的信噪比计算效率，还能够得到信噪比与信号采集条件之间的关系，从而提高信噪比计算的准确性，进而利于提高光学检测的准确性。

本发明授权一种光学检测装置及信噪比估算方法、缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：转台，用于承载待检测物体，以及带动所述待检测物体转动；光源，用于产生检测光，所述检测光照射在所述待检测物体的表面后形成反射光；探测器，用于接收所述反射光和或所述反射光之外的背景光，形成光信号并将所述光信号转换成电信号；处理器，与所述转台、所述光源和所述探测器连接，用于对所述待检测物体进行光学检测的控制和分析；其中，所述处理器控制所述转台、所述光源和所述探测器工作，并获取所述转台的转速信号，以及获取所述探测器的电信号和探测参数；所述处理器根据所述转速信号确定转速等级；所述处理器根据所述转速等级确定光学检测中受干扰的主要噪声类型和次要噪声类型；所述处理器根据所述主要噪声类型建立噪声干扰的评估模型；所述处理器根据所述电信号和或所述探测参数确定所述评估模型的输入参数；所述处理器将所述输入参数输入所述评估模型以获得信噪比；所述处理器根据所述信噪比判断所述待检测物体的表面被所述检测光照射的区域是否存在缺陷。

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