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龙图腾网恭喜东莞市台易电子科技有限公司申请的专利芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471330B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510062224.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质是由涂炳超设计研发完成，并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片老化测试技术领域，公开了一种芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质，该方法包括：对测试治具进行参数采集，得到原始测试数据；进行控制信号分析和信号融合，将融合温度控制指令输入测试治具的温控单元，得到稳态测试数据；进行多维度分析和数据筛选，得到有效测试数据；进行性能特征提取，得到性能特征数据；进行分组，并计算各测试通道的权重系数，结合失效模式标准进行加权处理，得到老化特性数据；将老化特性数据输入寿命预测模型进行性能预测值和寿命预测值计算，得到芯片老化测试结果，本发明能够准确捕捉芯片性能退化特征，同时输出性能预测值和寿命预测值，提供了全面的老化评估结果。

本发明授权芯片老化测试的治具控制方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试的治具控制方法，其特征在于，所述方法包括：对测试治具进行参数采集，得到原始测试数据，所述测试治具包括并行的多个测试通道；将所述原始测试数据分别输入温度应力补偿器和动态参数控制器进行控制信号分析和信号融合，生成融合温度控制指令，并将所述融合温度控制指令输入所述测试治具的温控单元，得到稳态测试数据；对所述稳态测试数据进行多维度分析和数据筛选，得到有效测试数据；将所述有效测试数据输入特征增强网络进行性能特征提取，得到性能特征数据；按照所述多个测试通道对所述性能特征数据进行分组，并计算各测试通道的权重系数，结合失效模式标准对各测试通道的性能特征数据进行加权处理，得到老化特性数据；具体包括：按照所述多个测试通道对所述性能特征数据进行数据分组，将每个测试通道的电压特征、电流特征和温度特征进行组合，得到通道特征组；对所述通道特征组中的每组特征数据计算方差和均值，通过局部敏感哈希算法对每组特征数据进行相似度计算，得到特征相似度矩阵；基于所述特征相似度矩阵构建图神经网络，将每个测试通道作为图中的节点，相似度作为边的权重，通过图卷积运算提取通道间关系，得到通道关联特征；将所述通道关联特征输入自适应权重计算单元，采用注意力机制计算每个测试通道的重要性得分，通过Softmax函数归一化处理，得到通道权重系数；根据预设的芯片失效模式标准构建故障特征库，将所述故障特征库中的特征向量与所述通道特征组进行余弦相似度计算，得到失效模式匹配度，并对所述失效模式匹配度和所述通道权重系数进行乘积运算，生成综合权重系数，并对所述综合权重系数进行归一化处理，得到目标权重系数；根据所述目标权重系数对所述通道特征组进行加权求和运算，将所述多个测试通道的特征数据融合为统一特征向量，得到融合特征数据，并对所述融合特征数据进行特征标准化处理，得到所述老化特性数据；将所述老化特性数据输入寿命预测模型进行性能预测值和寿命预测值计算，得到芯片老化测试结果。

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