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龙图腾网恭喜北京思谋智能科技有限公司申请的专利按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118918111B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411412579.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质是由郭达;梁华杰;王远;刘枢;吕江波;沈小勇设计研发完成，并于2024-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：获取至少一种光源下的待检测按键图像，并根据各个光源下的待检测按键图像，生成目标缺陷掩膜图像；根据目标缺陷掩膜图像中的各个缺陷轮廓区域，基于各个光源下的待检测按键图像，生成至少一个待检测缺陷轮廓区域图像；对各个待检测缺陷轮廓区域图像进行颜色空间转换，得到各个待检测缺陷轮廓区域图像在亮度通道下的灰度图像；针对任一待检测缺陷轮廓区域图像，基于其分别对应的灰度图像和按键缺陷类型进行按键缺陷检测，得到按键缺陷检测结果。采用本申请，能够实现对按键缺陷的精准检测。

本发明授权按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种按键缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取至少一种光源下的待检测按键图像，并采用至少一种缺陷检测方式对各个所述光源下的待检测按键图像进行缺陷检测，得到各个所述光源下的各个所述缺陷检测方式分别对应的缺陷轮廓掩膜图像；针对任一所述光源，对该光源下的各个所述缺陷检测方式分别对应的缺陷轮廓掩膜图像中的缺陷轮廓区域进行像素点合并，得到该光源下的合并缺陷掩膜图像；对各个所述光源下的合并缺陷掩膜图像中的缺陷轮廓区域进行区域合并，得到目标缺陷掩膜图像；所述目标缺陷掩膜图像包括至少一个缺陷轮廓区域；根据各所述光源下的合并缺陷掩膜图像，选取包含缺陷轮廓区域的区域数量最多的合并缺陷掩膜图像所对应的光源，作为目标光源，并将所述目标光源的待检测按键图像，确定为目标待检测按键图像；针对所述目标缺陷掩膜图像中的任一所述缺陷轮廓区域，基于预设的扩充半径，对该缺陷轮廓区域进行区域扩充，得到扩充轮廓区域；根据所述目标缺陷掩膜图像中的各个所述扩充轮廓区域，从所述目标待检测按键图像中提取与各个所述扩充轮廓区域相匹配的待检测缺陷轮廓区域图像，得到至少一个待检测缺陷轮廓区域图像；对各个所述待检测缺陷轮廓区域图像进行颜色空间转换，得到各个所述待检测缺陷轮廓区域图像在亮度通道下的灰度图像；针对任一所述待检测缺陷轮廓区域图像，基于其分别对应的灰度图像和按键缺陷类型进行按键缺陷检测，得到按键缺陷检测结果。

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