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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种光学系统点扩散函数椭率测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116007906B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310088215.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种光学系统点扩散函数椭率测量方法是由罗敬;徐天晓;张晓辉;何煦;董吉洪;徐抒岩设计研发完成，并于2023-02-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学系统点扩散函数椭率测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学检测技术领域，具体地提出一种光学系统点扩散函数椭率测量方法。该方法通过平行光管和待测光学系统搭建星点目标成像光路，且同步在光学仿真软件中构建与实际光路光学参数一致的模拟光学系统，包含模拟平行光管和模拟待测光学系统，并在模拟系统中添加Zernike面。以实际成像光路实测得到的点扩散函数为目标，以添加的Zernike面为优化变量，通过智能优化算法不断迭代优化，直到模拟系统的点扩散函数特征参数与实测点扩散函数特征参数的差异小于设定阈值，停止优化。将最终优化得到的Zenrike面与模拟待测系统构成新系统，该新系统的点扩散函数椭率值就是实际待测系统的点扩散函数椭率。

本发明授权一种光学系统点扩散函数椭率测量方法在权利要求书中公布了：1.一种光学系统点扩散函数椭率测量方法，其特征在于，包括：分别测量得到平行光管和待测光学系统各自的波像差，将所述平行光管和所述待测光学系统调整对齐，使得所述平行光管物面与所述待测光学系统的焦面共轭，将调整好的所述平行光管和所述待测光学系统整体置入稳定环境后，测得星点目标经过所述平行光管和所述待测光学系统后形成的星点像，并将星点像作为目标点扩散函数；利用点扩散函数椭率计算方法得到所述星点像的椭率值，同步计算星点像的其他特征参数，并将得到的参数作为目标参数；利用光学仿真软件，构建与实际系统光学参数一致的模拟光学系统，包含模拟平行光管和模拟待测光学系统，将光学仿真软件与数值计算软件建立动态数据连接，将所述平行光管和所述待测光学系统实测得到的波像差分别输入到所述模拟光学系统，在所述模拟光学系统中加入Zernike面，以所述目标参数为目标值，以Zernike面为优化变量，对所述模拟光学系统进行优化，将所述模拟光学系统输出的点扩散函数与实测的目标点扩散函数进行比较，当两者差值满足设定阈值要求时，停止优化，将最终优化得到的Zernike面与所述模拟待测光学系统组成一个新光学系统，并计算得到该新系统的点扩散函数椭率，此即为所述待测光学系统的点扩散函数椭率，完成测量。

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