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龙图腾网恭喜浙江大学申请的专利一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114894308B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210411685.3，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法与系统是由丁志华;韩涛设计研发完成，并于2022-04-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法与系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法与系统。本发明将两块厚度不同的量规放在同一平面，并分别测量量规表面和参考平面镜之间的干涉信号，进而得到相对相位差分布。将He‑Ne激光器的光耦合进干涉仪，可以得到特征波长和对应像素位置，加上两次测量的光程差之差，可在相对相位差分布基础上获得相位差的绝对值；然后根据特征谱线的波长和位置可以计算两次测量光程差之差的精确值，即可从相位差的绝对值直接得到每个像素对应的波长，完成光谱仪的标定。本发明可一次性获得相机所有像素与波长的对应关系。同时，干涉信号相位的高灵敏度避免了传统的多特征谱线拟合方法的拟合误差，使得该方法可以实现光谱仪的宽谱、快速、高精度标定。

本发明授权一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于低相干干涉的光谱仪标定方法，其特征在于：具体步骤如下：1将宽带光源出射光和He-Ne激光器光源出射光通过一块分束器同时耦合进干涉仪；其中，宽带光源出射光产生低相干干涉；He-Ne激光器出射光为准单色光，作为特征谱线；2固定一块平面反射镜作为干涉仪参考面，分别采用两块金属量规作为样品臂反射面，两块金属量规的厚度分别为d1和d2，两块量规表面干涉信号的光程差分别为2z1和2z2；3通过光谱仪分别探测两次干涉信号并经过数据采集卡采集，传输到计算机内存中进行数据处理；其中，干涉信号Iki的表达式为： 其中，η为探测器的灵敏度，q为单个电荷量，hν为单光子能量，Pr为从参考臂返回到探测器的光功率，Po为照射到样品上的光功率，z为反射面与参考面光程差的一半，rz和分别代表样品深度方向上反射系数的幅度和相位，Γz为光源瞬时输出的相干函数，ki代表第i个像素处的波数，z＝0时对应样品臂反射面与参考面的光程差为0；4对干涉信号进行傅立叶逆变换和加窗滤波处理，得到光程差为2z1和2z2的干涉信号的空间谱，再经过傅立叶变换得到干涉信号中去除直流分量的交流项；所述去除直流分量的交流项IACki的表达式为： 其中，Ski为光源功率谱谱分布函数；5对干涉信号的交流项进行Hilbert变换并取相位，获得干涉信号交流项的包裹相位；6两个金属量规表面干涉信号的包裹相位依次为和包裹相位的计算方法具体为： 其中，floor表示向负无穷方向取整运算；以中心位置的相位主值作为起点进行双向连续化解包裹处理，得到相对相位分布 式中为固定值，表示中心采样位置的相位包裹次数，kc为中心波数；两次测量干涉信号的相位相减，进而获得近似光程差下对应的相位差分布： 其中，近似光程差2Δz＝2d2-d1；7利用He-Ne光源的特征谱线对应的绝对相位2kHeNeΔz，计算出相对相位包裹次数N2-N1，表示为 其中，round运算表示取最接近的整数值，kHeNe为He-Ne光源的特征谱线对应的波数；计算光程差为2Δz时的光谱绝对相位分布： 8两次测量的光程差之差准确值通过获得，光谱仪绝对波长标定值为： 其中，i为光谱仪采样点，M为最大采样点数。

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