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电子科技大学罗锡梅获国家专利权

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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118430662B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410783593.7,技术领域涉及:G16B40/20;该发明授权一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法是由罗锡梅;李艳超;王彦苏;邹权设计研发完成,并于2024-06-18向国家知识产权局提交的专利申请。

一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法,涉及生物信息处理领域。该方法步骤包括:数据准备:对WGBS和CAPS数据分别计算CpG位点上下游的5‑甲基胞嘧啶(5mC)修饰水平和5‑羟甲基胞嘧啶5hmC修饰水平,作为模型的目标数据,并根据染色体编号进行分类,分别构建训练集和测试集;特征表示:合并训练集和测试集中的上下游50bp的DNA序列和上下游50个CpG位点的甲基化水平数据特征进行表示,以构建训练所需的特征输入矩阵;模型训练和调优:使用卷积神经网络模型和均方误差损失函数进行训练和参数调优,用于实现对5hmC的修饰水平的预测。本方法仅需WGBS测定的DNA甲基化信号,降低了对生物检测数据的依赖性,使预测模型更具可操作性;提高了预测精度和效率。

本发明授权一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法在权利要求书中公布了:1.一种DNA序列上的表观遗传修饰信号预测方法,其特征在于,所述方法步骤包括:S1.数据准备:对WGBS和CAPS数据分别计算5mC和5hmC水平每个CpG位点上下游的5mC和5hmC修饰水平,5hmC修饰水平作为模型的目标数据,并根据染色体编号进行分类,分别构建训练集和测试集;S2.特征表示:合并训练集和测试集中的上下游50bp的DNA序列和上下游50个CpG位点的甲基化水平数据特征进行表示,以构建训练所需的特征输入矩阵;S3.模型训练和调优:使用卷积神经网络模型和均方误差损失函数进行训练和参数调优,用于实现对5hmC的修饰水平的预测。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人电子科技大学,其通讯地址为:610000 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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