恭喜西门子工业软件有限公司M·哈伦达获国家专利权
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龙图腾网恭喜西门子工业软件有限公司申请的专利识别集成电路芯片中观察到的异常的原因获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114761928B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080083699.6,技术领域涉及:G06F11/00;该发明授权识别集成电路芯片中观察到的异常的原因是由M·哈伦达;G·帕内萨尔设计研发完成,并于2020-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本识别集成电路芯片中观察到的异常的原因在说明书摘要公布了:一种识别从集成电路IC芯片上的系统电路装置测得的异常特征的原因的方法,IC芯片包括系统电路装置和监控电路装置,监控电路装置用于通过测量一系列窗口的每个窗口中的系统电路装置的特征来监控系统电路装置,该方法包括:i从包括异常特征的异常窗口之前的窗口集中,识别候选窗口集,以便在候选窗口集中搜索异常特征的原因;ii针对系统电路装置的测得特征中的每个测得特征:a针对候选窗口集计算该测得特征的第一特征概率分布;b针对不在候选窗口集中的窗口计算该测得特征的第二特征概率分布;c比较第一和第二特征概率分布;以及d如果第一和第二特征概率分布相差超过阈值,则识别出在候选窗口集的时间范围内的该测得特征作为异常特征的原因;iii针对来自异常窗口之前的窗口集的其他候选窗口集,迭代步骤i和ii;以及iv输出信号,该信号指示步骤iid中被识别为异常特征的原因的测得特征。
本发明授权识别集成电路芯片中观察到的异常的原因在权利要求书中公布了:1.一种识别从一个集成电路IC芯片上的系统电路装置测得的异常特征的原因的方法,所述IC芯片包括所述系统电路装置和监控电路装置,所述监控电路装置用于通过测得一系列窗口中的每个窗口中的所述系统电路装置的特征来监控所述系统电路装置,所述方法包括:i从包括所述异常特征的异常窗口之前的一个窗口集中,识别一个候选窗口集,以便在所述候选窗口集中搜索所述异常特征的原因;ii针对所述系统电路装置的所测得的特征中的每个测得的特征:a针对所述候选窗口集,计算该测得的特征的第一特征概率分布;b针对不在所述候选窗口集中的窗口,计算该测得的特征的第二特征概率分布;c比较所述第一特征概率分布和所述第二特征概率分布;以及d如果所述第一特征概率分布和所述第二特征概率分布相差超过阈值,则识别出在所述候选窗口集的时间范围内的该测得的特征作为所述异常特征的原因;iii针对来自所述异常窗口之前的所述窗口集的多个其他候选窗口集,迭代步骤i和ii;以及iv输出一个信号,所述信号指示步骤iid中被识别为所述异常特征的原因的那些测得的特征。
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