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龙图腾网恭喜华为技术有限公司申请的专利芯片测试电路及电路测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115443413B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080100077.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试电路及电路测试方法是由崔昌明;黄俊林;黄宇;付海涛设计研发完成，并于2020-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试电路及电路测试方法在说明书摘要公布了：一种芯片测试电路及电路测试方法，可用于EDA软件中对芯片电路进行测试，用于解决目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置复杂的问题。该测试电路将测试向量的输入数据通过测试总线的输入传输至数据分发电路301中，通过数据分发电路301传输至被测电路01的扫描输入通道，被测电路01扫描结束后，被测电路01的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路301传输至测试总线的输出完成被测电路01的测试，通过对第一选择器302的配置实现数据分发电路301与测试总线02的动态对应关系，使得测试资源能够得以动态分配，极大程度地优化了绕线拥塞的问题，以便降低测试成本，并且可以简化配置过程，从而提高测试效率。

本发明授权芯片测试电路及电路测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试电路，其特征在于，包括：与多个被测电路分别对应的多个子测试电路，所述多个子测试电路用于分别将对应的被测电路连接在测试总线上；所述多个子测试电路中第j个子测试电路包括Nj个数据分发电路和M个第一选择器，其中，Nj和M均为正整数，M等于所述测试总线的位宽，并且M大于或等于Nj；所述第j个子测试电路为所述多个子测试电路中的任意一个子测试电路；在第j个所述子测试电路中，所述Nj个数据分发电路的第一输入端，分别与所述测试总线的Nj个输入连接，所述Nj个数据分发电路的第一输出端，与第j个子测试电路对应的所述被测电路的扫描输入通道连接，所述Nj个数据分发电路的第二输入端，与第j个子测试电路对应的所述被测电路的扫描输出通道连接；在第j个所述子测试电路中，所述M个第一选择器的输出端分别连接所述测试总线的M个输出；所述M个第一选择器中的Nj个所述第一选择器的第一输入端，分别连接Nj个所述数据分发电路的第二输出端，其余的M-Nj个所述第一选择器的第一输入端，分别连接M-Nj个未设置所述数据分发电路的所述测试总线的输入；所述M个第一选择器中的Nj个所述第一选择器的第二输入端，分别连接Nj个所述数据分发电路的第二输出端，其余的M-Nj个所述第一选择器的第二输入端，分别连接M-Nj个未设置所述数据分发电路的所述测试总线的输入；每个所述第一选择器的第一输入端和第二输入端连接的所述测试总线不同。

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