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龙图腾网恭喜山西创芯光电科技有限公司申请的专利一种面向多色红外探测器的故障诊断方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595126B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510152201.1，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权一种面向多色红外探测器的故障诊断方法及系统是由陈龙华;张培峰;王伟;牛雪雷;苏莹;李欣诺;田力豪设计研发完成，并于2025-02-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向多色红外探测器的故障诊断方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及探测器测试的数据校准技术领域，具体涉及一种面向多色红外探测器的故障诊断方法及系统，该方法包括：获取多色红外探测器在每个采样时刻的I‑V特性曲线；划分结构损坏程度‑时间的分段直线；对每个采样时刻的I‑V特性曲线进行增长趋势去除；利用结构损坏程度‑时间的分段直线，对所有采样时刻的暗电流密度划分到对应区域中的暗电流密度进行频域转换，筛选出噪声暗电流密度区间并对其去噪；利用每个区域与其前后相邻区域之间噪声暗电流密度区间的暗电流密度数量占比差异，判断多色红外探测器结构的故障情况。本申请旨在通过分析随着增长趋势导致的噪声数据点对分析多色红外探测器结构故障的干扰，提高诊断结果的准确性。

本发明授权一种面向多色红外探测器的故障诊断方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种面向多色红外探测器的故障诊断方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取多色红外探测器在每个采样时刻的I-V特性曲线；所述I-V特性曲线由不同偏压下的暗电流密度组成；根据暗电流密度在所有采样时刻下的分布情况，确定噪声并进行去噪；具体为：A1，根据任意采样时刻下的所有偏压的探测率和量子效率，确定任意采样时刻的结构损坏程度，以构建结构损坏程度-时间的散点图，并划分结构损坏程度-时间的分段直线；A2，根据所有采样时刻中偏压为零的暗电流密度的增长趋势，对每个采样时刻的I-V特性曲线进行增长趋势去除；A3，利用结构损坏程度-时间的分段直线，对所有采样时刻的暗电流密度划分到对应区域；对每个区域中的暗电流密度进行频域转换，并划分暗电流密度区间；基于相同的暗电流密度区间在所有区域的频域信息差异，计算每种暗电流密度区间的噪声可能性，从而筛选出噪声暗电流密度区间并对其进行去噪处理；利用每个区域中噪声暗电流密度区间的暗电流密度数量的占比，分析与其前后相邻区域之间的差异，确定每个区域的结构破坏程度，判断多色红外探测器结构的故障情况。

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