北京量拓科技有限公司朱宗洋获国家专利权
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龙图腾网获悉北京量拓科技有限公司申请的专利一种测量不透明基底样品膜厚的机构获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222912646U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422063611.2,技术领域涉及:G01B11/06;该实用新型一种测量不透明基底样品膜厚的机构是由朱宗洋;陈璐设计研发完成,并于2024-08-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测量不透明基底样品膜厚的机构在说明书摘要公布了:本申请涉及光学检测设备领域,尤其涉及一种测量不透明基底样品膜厚的机构,其包括设备架、样品台、直线驱动件以及旋转驱动件,所述设备架安装有探测头和投射模块;所述样品台安装于设备架,所述直线驱动件用于驱动样品台沿直线方向运动,所述旋转驱动件用于驱动样品台转动。本申请具有便于对样品进行检测,降低检测人员的工作强度的效果。
本实用新型一种测量不透明基底样品膜厚的机构在权利要求书中公布了:1.一种测量不透明基底样品膜厚的机构,其特征在于:包括设备架1、样品台3、直线驱动件4以及旋转驱动件5,所述设备架1安装有探测头11和投射模块12;所述样品台3安装于设备架1,所述直线驱动件4用于驱动样品台3沿直线方向运动,所述旋转驱动件5用于驱动样品台3转动。
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