恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所吕金光获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利空间光调制光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115219028B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210816097.8,技术领域涉及:G01J3/45;该发明授权空间光调制光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;赵莹泽;赵百轩;郑凯丰;陶金;王惟彪;秦余欣设计研发完成,并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本空间光调制光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种空间光调制光谱仪及其测量方法,包括:光源系统、液晶相位调控阵列、数字微镜阵列和探测器系统;光源系统用于发出一束线偏振光束,经过相位调控阵列的分布式相位调制后得到由M×M个光场单元组成的光场阵列;数字微镜阵列用于对光场阵列进行选通,使至少两个光场单元所对应的光束入射至探测器系统中发生干涉,得到干涉图信号,获取线偏振光束的光谱信息。本发明实现了光程差的精确调制与干涉信号的精确采样。本发明专利提出基于液晶相位调控阵列与数字微镜阵列的傅里叶变换光谱仪无光程差的精密扫描与能量分光,回避了扫描动镜的制作和控制困难,降低了系统的体积和重量,同时提高了系统的能量利用率。
本发明授权空间光调制光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了:1.一种空间光调制光谱仪,其特征在于,包括:光源系统、液晶相位调控阵列、数字微镜阵列和探测器系统;所述光源系统用于发出一束线偏振光束,经过所述液晶相位调控阵列的分布式相位调制后得到由M×M个光场单元组成的光场阵列;所述数字微镜阵列用于对所述光场阵列进行选通,使至少两个光场单元所对应的至少两束光束入射至所述探测器系统中发生干涉,得到干涉图信号,获取所述线偏振光束的光谱信息;当行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列加载相同的电压分布V时,所述列向液晶相位调控阵列的液晶层厚度Ly是所述行向液晶相位调控阵列液晶层厚度Lx的N倍,即;所述行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列相邻条形单元上加载的电压对应的折射率差值满足;当所述行向液晶相位调控阵列和所述列向液晶相位调控阵列具有相同的液晶层厚度L时,列向液晶相位调控阵列相邻条形单元上加载电压Vy引起的折射率差值是行向液晶相位调控阵列相邻条形单元加载电压Vx引起的折射率差值的N倍,即;行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列相邻条形单元上加载的电压对应的折射率差值分别满足,;其中,λmin为所述线偏振光束中的最小波长。
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