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恭喜郑州轻工业大学翟玉生获国家专利权

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龙图腾网恭喜郑州轻工业大学申请的专利一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115077392B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210673757.1,技术领域涉及:G01B11/02;该发明授权一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法是由翟玉生;赵一恒;蒋留杰;张志峰;耿利杰;张瑞亮;杨坤设计研发完成,并于2022-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。

一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法在说明书摘要公布了:本发明提出了一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法,聚焦的待测光束被放置在聚焦焦点附近的光阑部分遮挡;被光阑部分遮挡的待测光束入射到位置敏感光电探测器的感光面上,形成缺损光斑;待测光束若发生空间位置变化导致光阑遮挡处的光束光斑产生与被遮挡方向平行的位移d,位置敏感光电探测器的感光面上将产生放大的光斑缺损变化量D=dL2L1,输出的光斑位移放大L2L1倍,L1为光阑与聚焦焦点在光线行进方向上的距离;L2为PSD与聚焦焦点在光线行进方向上的距离。本发明使位置敏感光电探测器上光斑能量重心位置变化获得与光斑尺寸变化相同倍数的放大,可大幅提高光束光斑位移测量灵敏度,结构简单灵活,便于不同应用集成整合,且成本低。

本发明授权一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法在权利要求书中公布了:1.一种光束光斑位移放大测量方法,其特征在于,其步骤如下:步骤S1:聚焦透镜、光阑和位置敏感光电探测器沿待测光束行进方向依次排列,聚焦透镜的轴线与待测光束重合、并与位置敏感光电探测器的感光面垂直;步骤S2:待测光束经聚焦透镜聚焦;步骤S3:聚焦的待测光束被放置在聚焦焦点附近的光阑部分遮挡;步骤S4:被光阑部分遮挡的待测光束入射到位置敏感光电探测器的感光面上,形成能量重心位置变化的缺损光斑;步骤S5:待测光束若发生空间位置变化导致光阑遮挡处的光束光斑产生与被遮挡方向平行的位移d,位置敏感光电探测器的感光面上将产生放大的光斑缺损变化量D=dL2L1,位置敏感光电探测器输出的光斑位移XD放大L2L1倍;其中,L1为光阑与聚焦焦点在光线行进方向上的距离;L2为位置敏感光电探测器与聚焦焦点在光线行进方向上的距离。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人郑州轻工业大学,其通讯地址为:450000 河南省郑州市高新技术产业开发区科学大道136号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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