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龙图腾网恭喜南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司申请的专利用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114280602B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111579451.1，技术领域涉及：G01S13/88；该发明授权用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法是由范皓然;陈建飞;张胜;蔡志匡设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了毫米波近场成像技术领域的用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法，包括：获取目标场景的毫米波信号；基于毫米波信号构建可见度函数；基于可见度函数反演出不同距离参数下的二维场景图；基于二维场景图构建图像‑距离数据集；对图像‑距离数据集进行分区校准，构建不同区域目标的距离函数；基于距离函数构建成像模型，对目标场景进行分区域的自适应重构反演，得到毫米波图像。本发明能够提高复杂近距目标场景的成像反演图像精度。

本发明授权用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法在权利要求书中公布了：1.用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像方法，其特征是，包括：获取目标场景的毫米波信号；基于毫米波信号构建可见度函数；基于可见度函数反演出不同距离参数下的二维场景图；基于二维场景图构建图像-距离数据集；对图像-距离数据集进行分区校准，构建不同区域目标的距离函数；基于距离函数构建成像模型，对目标场景进行分区域的自适应重构反演，得到毫米波图像；对图像-距离数据集进行分区校准，构建不同区域目标的距离函数，包括：根据图像清晰度对图像-距离数据集进行分区域的距离参数校正，对于第ki个分区，其区内图像清晰度fkiR为：fkiR＝EOG[Tx,y,R.*Bkix,y]8式中，EOG为能量梯度函数，用于表征图像的自清晰度；Tx,y,R为图像-距离数据集；Bkix,y为第ki个分区的位置标示矩阵，表达式为： 式中，xki,yki为第ki个分区的中心坐标，Ns为分区块的大小；依据各区清晰度fkiR确定max[fkiR]所对应的距离Rki，构建距离函数Rx,y:Rx,y＝meanRki,ifx,y∈Bki10式中，meanRki表示x,y在所有分区中Rki的平均值，Bki表示第ki个分区的位置标示矩阵。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司，其通讯地址为：226006 江苏省南通市崇川区新康路33号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。