恭喜敏业信息科技(上海)有限公司黄小文获国家专利权
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龙图腾网恭喜敏业信息科技(上海)有限公司申请的专利磁性器件磁导率的测试装置和测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115639507B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110814634.0，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权磁性器件磁导率的测试装置和测试方法是由黄小文设计研发完成，并于2021-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本磁性器件磁导率的测试装置和测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种磁性器件磁导率的测试装置和测试方法。磁导率的测试装置包括：夹具，用于夹持磁性器件，磁性器件包括由单匝线圈穿过的磁环；测量仪器，用于测量磁性器件的插入损耗或S21参数；以及上位机，连接测量仪器，用于接收插入损耗或S21参数，使用插入损耗且根据单匝线圈时插入损耗与磁导率的换算公式计算磁导率，或者使用S21参数根据单匝线圈时S21参数与磁导率的换算公式计算磁导率。本发明的磁性器件磁导率的测试装置和测试方法，可以简单方便的测试磁导率，降低测试成本。
本发明授权磁性器件磁导率的测试装置和测试方法在权利要求书中公布了：1.一种磁性器件磁导率的测试装置，包括：夹具，用于夹持磁性器件，所述磁性器件包括由单匝线圈穿过的磁环；测量仪器，用于测量所述磁性器件的插入损耗或S21参数；以及上位机，连接所述测量仪器，用于接收所述插入损耗或S21参数，使用所述插入损耗且根据单匝线圈时插入损耗与磁导率的换算公式计算磁导率，或者使用所述S21参数且根据单匝线圈时S21参数与磁导率的换算公式计算磁导率，其中所述单匝线圈时插入损耗与磁导率的换算公式为： 或者： 其中μ为磁导率，le为所述磁环的有效磁路长度，Ae为所述磁环的有效截面积，D为所述磁环的外径，d为所述磁环的内径，h为所述磁环的高度，f为测量信号的频率以及IL为插入损耗。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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