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龙图腾网恭喜北京怀柔实验室申请的专利功率器件封装老化监测方法、监测电路、驱动方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119881581B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510372702.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权功率器件封装老化监测方法、监测电路、驱动方法及装置是由刘鉴辉;唐新灵;魏晓光;王耀华;于克凡;杜玉杰;代安琪;王靖飞设计研发完成，并于2025-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本功率器件封装老化监测方法、监测电路、驱动方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供功率器件封装老化监测方法、监测电路、驱动方法及装置，该方法包括：根据第一加热脉冲对待测器件加热，使结温升高至预设最大结温；对待测器件散热，散热时长根据辅助封装膜层与目标封装膜层的热时间常数和确定，待测器件的封装结构包括辅助封装膜层和目标封装膜层，辅助封装膜层位于目标封装膜层与热源之间；获取待测器件第一当前结温；根据第二加热脉冲对待测器件加热，加热时长根据辅助封装膜层的热时间常数和确定，第二加热脉冲根据第一加热脉冲确定；获取待测器件第二当前结温；根据第一当前结温、第二当前结温和第二加热脉冲，确定目标封装膜层的当前热阻；根据当前热阻与预设热阻判断目标封装膜层的老化状态。

本发明授权功率器件封装老化监测方法、监测电路、驱动方法及装置在权利要求书中公布了：1.功率器件封装老化监测方法，其特征在于，包括：根据第一加热脉冲对待检测功率器件进行加热，以使所述待检测功率器件的结温升高至预设最大结温；对当前结温等于所述预设最大结温的所述待检测功率器件进行散热，其中，所述待检测功率器件的散热时间是根据第一热时间常数确定的，所述第一热时间常数等于辅助封装膜层与目标封装膜层的热时间常数之和，所述待检测功率器件的封装结构包括所述辅助封装膜层和所述目标封装膜层，所述辅助封装膜层位于所述目标封装膜层与所述待检测功率器件相接触的热源之间；获取所述待检测功率器件的第一当前结温；根据第二加热脉冲对所述待检测功率器件进行加热，其中，所述第二加热脉冲的加热时间是根据第二热时间常数确定的，所述第二热时间常数等于全部所述辅助封装膜层的热时间常数之和，第二加热脉冲功率是根据第一加热脉冲功率、所述第一热时间常数和所述第二热时间常数确定的；获取所述待检测功率器件的第二当前结温；根据所述第一当前结温、所述第二当前结温和所述第二加热脉冲功率，确定所述目标封装膜层的当前热阻；根据所述当前热阻与所述目标封装膜层的预设热阻，判断所述目标封装膜层的老化状态。

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