恭喜广州长仁工业科技有限公司姚宇茏获国家专利权
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龙图腾网恭喜广州长仁工业科技有限公司申请的专利一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119850626B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510332273.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统是由姚宇茏;杨勇;姚尚岷设计研发完成,并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统在说明书摘要公布了:本发明属于工业模块领域,提供一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统,包括步骤采集抛光桶顶部的光学图像及光谱图像;对光学图像与光谱图像进行空间对齐,确定磷铜球在光谱图像中的第一位置,计算磷铜球在光学图像中对应的第二位置;基于圆度阈值判断磷铜球的几何完整性;对所述第二位置的磷铜球采用灰度共生矩阵分析方法计算磷铜球表面的粗糙度指标,以评估抛光是否均匀;采用亮度直方图分析方法计算磷铜球的光洁度均匀性,判断其是否满足抛光标准;当所述磷铜球的光洁度低于预设阈值时,调整抛光参数并继续抛光,否则停止抛光并输出检测结果。
本发明授权一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:步骤S10,数据采集,采用工业相机获取磷铜球在抛光桶顶部的光学图像,采用短波红外高光谱相机获取抛光桶顶部的光谱图像;步骤S20,对光学图像与光谱图像进行空间对齐,使二者在同一坐标系下进行分析;通过目标检测算法确定磷铜球在光谱图像中的第一位置,并基于光学图像的坐标映射模型,计算磷铜球在光学图像中对应的第二位置,确保同一磷铜球在两个数据通道中的一致性;步骤S30,对所述第二位置的磷铜球采用椭圆拟合算法计算磷铜球的圆度,并基于圆度阈值判断磷铜球的几何完整性,当所述磷铜球的圆度未达到标准时,调整抛光参数并继续研磨;步骤S40,对所述第二位置的磷铜球采用灰度共生矩阵分析方法计算磷铜球表面的粗糙度指标,以评估抛光是否均匀;采用亮度直方图分析方法计算磷铜球的光洁度均匀性,判断其是否满足抛光标准;当所述磷铜球的光洁度低于预设阈值时,调整抛光参数并继续抛光,否则停止抛光并输出检测结果;所述工业相机和所述短波红外高光谱相机位置相对固定;所述对光学图像与光谱图像进行空间对齐包括:进行相机内参标定,采用棋盘格或标定板,分别标定光学相机和光谱相机的内参矩阵,包括焦距、主点坐标和镜头畸变系数;进行相机外参标定,确定光学相机与光谱相机之间的相对位置关系,即旋转矩阵和平移向量,用于描述两台相机的坐标转换,计算相机之间的单应性矩阵;采用计算出的旋转矩阵和平移向量,将光谱图像中的像素点转换到光学图像的坐标系下,确保两者的空间位置匹配;再通过单应性变换,利用投影转换矩阵计算光谱图像中每个像素点在光学图像中的对应位置,并进行重映射。
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