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龙图腾网获悉上海电力大学申请的专利一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116380854B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310207101.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法是由时鹏辉;陈慕欣;王俏燕;黄淑君;孔一船;陈智超;黄炫锐;闵宇霖设计研发完成，并于2023-03-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法在说明书摘要公布了：本发明属于废水水质检测技术领域，提供了一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法，包括试样配置、过滤、光谱测试、背景校正、数据处理等步骤。该方法利用微塑料与水接触会产生具有荧光特性的溶解性有机物的原理，使用荧光光谱仪对水中是否存在微塑料污染进行检测，具有广泛适用性，无需对水样进行其他预处理，测定后水样还可回收入母液。与现有技术相比，本方法无需消解等繁琐的处理过程，预处理只需要过滤几分钟，只需要测定一次判断比值，测试几分钟即可得到结果，时间大大缩短。因此本方法具有操作简单、测试迅速、灵敏度高、无需化学试剂等优点，弥补了现有检测技术检测速度较慢的缺陷。

本发明授权一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于荧光光谱快速检测水中微塑料污染的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，用多种塑料配置实验水样样本；步骤S2，使用荧光光谱仪，分别使用激发波长Ex＝235nm及激发波长Ex＝295nm在Em测试区间内测定每个所述实验水样样本的发射光谱，将出峰最大值作为每个所述实验水样样本的发射光谱峰值，得到每个所述实验水样样本在Ex＝235nm和Ex＝295nm的发射光谱峰值；步骤S3，对测得的发射光谱峰值进行背景校正，得到所述实验水样样本Ex＝235nm时的校正发射光谱的峰值I235以及在Ex＝295nm时的校正发射光谱的峰值I295；步骤S4，求得每个所述实验水样样本I295与I235的比值，将最小比值作为判断比值；步骤S5，使用荧光光谱仪，在相同的Em测试区间内测定待测水样在Ex＝235nm和Ex＝295nm的发射光谱峰值，并对测得的发射光谱进行背景校正，得到所述待测水样在Ex＝235nm时的校正发射光谱的峰值I235以及在Ex＝295nm时的校正发射光谱的峰值I295，并求得所述待测水样I295与I235的比值；步骤S6，将所述待测水样的I295与I235的比值与所述判断比值进行比较，若所述待测水样的I295与I235的比值大于所述判断比值，则判定所述待测水样中存在微塑料污染，若所述待测水样的I295与I235的比值小于等于所述判断比值，则判定所述待测水样中不存在微塑料污染。

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