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龙图腾网恭喜华中科技大学申请的专利一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119884568B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510360868.0，技术领域涉及：G06F17/13；该发明授权一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法是由王兴晟;江品锋;王乐天;彭治梁;方艺龙;王怡;缪向水设计研发完成，并于2025-03-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法，属于集成电路技术领域；在分别提取到集成电路器件的几何参数、电学参数和材料属性的全局特征后，通过融合模块构建几何‑电学‑材料三耦合机制对几何参数、电学参数和物理属性的全局特征进行融合，首先引入物理场一致性映射机制，将电学特征映射至与几何特征对齐的高维特征空间，确保两者在空间上的一致性和表达上的互补性，增强电学特征与几何特征的耦合能力，然后通过注意力机制，动态评估几何参数、电学参数和材料属性在不同电场区域的相互影响程度，动态实现三者特征的深度耦合，解决了集成电路器件电场求解中非线性复杂区域的表达问题，提高了求解的准确性。

本发明授权一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统，其特征在于，包括：几何特征提取模块，用于提取集成电路器件几何参数的特征，得到第一全局几何特征；电学特征提取模块，用于提取集成电路器件电学参数的特征，得到第一全局电学特征；材料特征提取模块，用于提取集成电路器件材料属性的特征，得到第一全局材料特征；融合模块，用于对第一全局几何特征、第一全局电学特征和第一全局材料特征进行融合，得到融合特征；编码模块，用于对融合特征进行编码，得到编码特征；解码模块，用于对编码特征进行解码，得到集成电路器件的电场分布；其中，融合模块包括：第一特征提取器，用于将第一全局几何特征按照集成电路器件结构进行空间网格划分，得到每个网格单元的局部几何特征；分别对各局部几何特征进行特征提取，得到各网格单元的几何参数特征；对各网格单元的几何参数特征进行嵌入化处理，得到各网格单元的几何嵌入特征，共同构成第二全局几何特征；第二特征提取器，用于对第一全局电学特征进行多个尺度的特征提取，并对所得的各尺度特征进行嵌入化处理，得到各尺度所对应的电学嵌入特征，共同构成第二全局电学特征；第三特征提取器包括全连接层，用于将第二全局几何特征与第二全局电学特征相加后的特征输入至全连接层后进行特征提取，并将所提取的特征与第一全局材料特征相加，得到第二全局材料特征；融合器，用于将第二全局几何特征、第二全局电学特征和第二全局材料特征分别作为查询矩阵、键矩阵和值矩阵，基于注意力机制进行融合，得到融合特征。

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