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龙图腾网恭喜深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利膜层测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119688597B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510207978.3，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权膜层测量方法及装置是由马砚忠;郑麦杰;戴鹭楠;白园园;孙韬;陈鲁设计研发完成，并于2025-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本膜层测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种膜层测量方法及装置，膜层测量方法包括：采用泵浦光和探测光照射待测样品，探测光经待测样品反射形成探测信号光，其中，探测光或者泵浦光经回射器引导照射待测样品，回射器沿第一方向往返移动以对探测光或者泵浦光进行时间延迟；接收回射器沿第一方向正向移动时的探测信号光，生成正向扫描光谱，以及接收回射器沿第一方向反向移动时的探测信号光，生成反向扫描光谱；整合正向扫描光谱和反向扫描光谱生成探测光谱，基于探测光谱获取待测样品的膜层性质。本发明至少有利于提升膜层性质的测量效率。

本发明授权膜层测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种膜层测量方法，其特征在于，包括：采用泵浦光和探测光照射待测样品，所述探测光经所述待测样品反射形成探测信号光，其中，所述探测光或者所述泵浦光经回射器引导照射所述待测样品，所述回射器沿第一方向往返移动以对所述探测光或者所述泵浦光进行时间延迟；接收所述回射器沿第一方向正向移动时的探测信号光，生成正向扫描光谱，以及接收所述回射器沿第一方向反向移动时的探测信号光，生成反向扫描光谱；整合所述正向扫描光谱和所述反向扫描光谱生成探测光谱，基于所述探测光谱获取所述待测样品的膜层性质；整合所述正向扫描光谱和所述反向扫描光谱生成探测光谱包括：对所述正向扫描光谱或者所述反向扫描光谱进行补偿，以使正向扫描光谱和反向扫描光谱时间对齐；对时间对齐的正向扫描光谱和反向扫描光谱进行平均处理，以获得所述探测光谱；对所述正向扫描光谱或者所述反向扫描光谱进行补偿包括：预先获取不同测量状态下正向扫描光谱和反向扫描光谱之间的时间偏移量，得到测量状态与时间偏移量的对应关系；基于所述测量状态与时间偏移量的对应关系，根据实际测量状态确定待补偿的时间偏移量，采用所述待补偿的时间偏移量对所述正向扫描光谱或者所述反向扫描光谱进行补偿。

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