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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119541610B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510105140.3，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法是由张秀杰;余玉设计研发完成，并于2025-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法，涉及存储器技术领域，所述的存储器，包括：缓存器，用以对主机写入的待测数据进行缓存；闪存模块，用以接收在缓存器写满后继续写入的待测数据；以及主控模块，用以初始化存储器，并在待测数据写入至缓存器时，且经过延迟预设时间后，执行初始化操作，判断待测数据是否从缓存器中完整下刷至闪存模块，若否，则重新配置延迟预设时间，并将待测数据重新写入，直至待测数据完整下刷至闪存模块中。本发明提供的存储器，可以通过读写后步进式掉电的方式，来实现测试开启了cache功能的固件的数据下刷时间。

本发明授权一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器，其特征在于，包括：缓存器，用以对主机写入的待测数据进行缓存；闪存模块，用以接收在所述缓存器写满后继续写入的所述待测数据；以及主控模块，用以初始化所述存储器，并在所述待测数据写入至所述缓存器时，且经过延迟预设时间后，执行初始化操作，判断所述待测数据是否从所述缓存器中完整下刷至所述闪存模块，若否，则重新配置所述延迟预设时间，并将所述待测数据重新写入，直至所述待测数据完整下刷至所述闪存模块中；所述主控模块执行初始化操作时，对所述闪存模块重新上电，并读回上一次断电前下刷至所述闪存模块的写入数据；所述主控模块判断所述待测数据从所述缓存器中下刷至所述闪存模块时，比较所述写入数据与所述待测数据是否一致，若所述写入数据与所述待测数据保持一致，则下刷成功；若所述写入数据与所述待测数据不一致，则下刷失败。

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