恭喜哈尔滨工程大学刘永阔获国家专利权
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龙图腾网恭喜哈尔滨工程大学申请的专利一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116167273B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211097495.5,技术领域涉及:G06F30/27;该发明授权一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法是由刘永阔;陈志涛;贾亚辉;郭晓俐设计研发完成,并于2022-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法,该方法采用蒙特卡罗模拟的方式计算得到大量单层屏蔽及双层屏蔽结构的γ射线累积因子数据,并基于单层和双层屏蔽累积因子数据建立起单层与双层屏蔽累积因子回归计算模型,基于单层屏蔽数据建立起双层屏蔽等效层原子序数回归计算模型,最终采用等效层迭代的方式将任意多层屏蔽结构转化为可处理的双层屏蔽,实现任意多层屏蔽结构的γ射线累积因子高效准确计算。
本发明授权一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法在权利要求书中公布了:1.一种任意多层屏蔽结构γ射线累积因子迭代计算方法,其特征在于,步骤如下:1基于蒙特卡罗模拟方法建立单层和双层屏蔽累积因子的输运计算模型;2通过输运计算模型结合射线指数衰减规律,计算得到大量单层屏蔽及双层屏蔽结构的γ射线累积因子数据;3在单层和双层屏蔽累积因子数据的基础上,基于机器学习中的极限树算法,建立起累积因子回归计算模型,用于计算单层和双层屏蔽累积因子;将输入空间定义为E,Z1,t1,Z2,t2,输出为B,其中Zn和tn分别为第n层屏蔽的材料原子序数和屏蔽厚度;对于单层屏蔽累积因子,Z2和t2设置为0,此时输入空间的为E,Z,t,0,0;B为该单层或双层屏蔽的累积因子;采用极限树算法,对单层和双层屏蔽累积因子数据进行学习,从而建立起单层和双层屏蔽累积因子的回归计算模型;4在单层屏蔽累积因子数据的基础上,建立起双层屏蔽等效层原子序数回归计算模型,以便将双层屏蔽转化为一等效层;5根据等效层处理原则与迭代策略,建立任意多层屏蔽结构累积因子迭代计算模型,通过循环迭代将任意多层屏蔽转化为一种等效的双层屏蔽结构;6计算该双层屏蔽结构的累积因子值并将其作为任意多层屏蔽累积因子问题的输出结果。
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