恭喜荣芯半导体(宁波)有限公司汪阳获国家专利权
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龙图腾网恭喜荣芯半导体(宁波)有限公司申请的专利半导体结构及其制作方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119560418B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510097793.1,技术领域涉及:H01L21/67;该发明授权半导体结构及其制作方法是由汪阳;李志伟;苏延洪;万鑫;李侗玲设计研发完成,并于2025-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体结构及其制作方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种半导体结构及其制作方法。半导体结构的制作方法包括:提供基底,基底包括第一区域和第二区域,基底上形成有介质层;执行各向异性的第一干法刻蚀工艺,刻蚀介质层和基底并停止在基底中,在第一区域形成多个通孔;执行各向异性的第二干法刻蚀工艺,刻蚀第二区域的介质层和基底形成接触孔,同时刻蚀通孔侧边的介质层和基底扩大通孔形成标记沟槽。如此在同时刻蚀的接触孔和标记沟槽时,可以有效地抑制刻蚀标记沟槽时发生的限制扩散效应,提高标记沟槽的边界清晰度,提高套刻精度量测值的精度。本发明的半导体结构利用本发明提供的半导体结构的制作方法制成。
本发明授权半导体结构及其制作方法在权利要求书中公布了:1.一种半导体结构的制作方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底包括第一区域和第二区域,所述基底上形成有介质层;执行各向异性的第一干法刻蚀工艺,刻蚀所述介质层和所述基底并停止在所述基底中,在所述第一区域形成多个通孔;在所述基底上形成图形化的第二掩模层,所述图形化的第二掩模层中具有接触孔图案和标记沟槽图案,一个所述标记沟槽图案与至少部分所述通孔位置对应且露出对应的所述通孔;在所述图形化的第二掩模层的掩蔽下,执行各向异性的第二干法刻蚀工艺,刻蚀所述第二区域的所述介质层和所述基底形成接触孔,同时刻蚀所述通孔侧边的所述介质层和所述基底扩大所述通孔形成标记沟槽;以及去除所述图形化的第二掩模层。
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