买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜西安奥华电子仪器股份有限公司申请的专利一种晶体实验数据分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119415839B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510020216.2，技术领域涉及：G06F18/10；该发明授权一种晶体实验数据分析方法及系统是由徐侃;陈光显;李轩奥;刘绮天;贠昭恒;吴佳腾;徐瑞琪设计研发完成，并于2025-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶体实验数据分析方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及晶体数据处理技术领域，尤其涉及一种晶体实验数据分析方法及系统。方法包括步骤：以晶体XRD数据序列中的数据点为中心得到该数据点的预设近邻片段，通过数据点近邻片段中的强度变化得到该数据点的局部对称度；计算数据点的衍射峰可能程度；通过数据点的近邻片段中相邻数据点与上一组相邻数据点之间的强度差异均值，得到该数据点的噪声程度；计算滑动窗口的多项式阶数调节系数；通过滑动窗口的多项式阶数调节系数对预设多项式阶数进行加权，得到各滑动窗口的多项式阶数；在S‑G滤波算法中使用滑动窗口的多项式阶数对XRD数据序列进行滤波，以实现晶体实验数据分析，有效地提高晶体实验数据分析的准确性。

本发明授权一种晶体实验数据分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种晶体实验数据分析方法，其特征在于，包括：以晶体XRD数据序列中的数据点为中心得到该数据点的预设近邻片段，通过数据点近邻片段中的强度变化得到该数据点的局部对称度；将近邻片段中各数据点的强度均值记为第一均值，将近邻片段中相邻数据点之间强度差值的绝对值均值记为第二均值；将数据点的局部对称度与第一均值和第二均值的乘积归一化处理，得到该数据点的衍射峰可能程度；通过数据点的近邻片段中相邻数据点与上一组相邻数据点之间的强度差异均值，得到该数据点的噪声程度； ； 为第个滑动窗口的多项式阶数调节系数，为超参数，为滑动窗口长度，为滑动窗口序数，、分别为第i个数据点的衍射峰可能程度、噪声程度；通过滑动窗口的多项式阶数调节系数对预设多项式阶数进行加权，得到各滑动窗口的多项式阶数；在S-G滤波算法中使用滑动窗口的多项式阶数对XRD数据序列进行滤波，以实现晶体实验数据分析；所述数据点的局部对称度满足关系式：； 为第i个数据点的局部对称度，为近邻片段半径，、、、分别为第个、第个、第个、第个数据点的强度，为线性归一化函数，为保留正值函数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安奥华电子仪器股份有限公司，其通讯地址为：710100 陕西省西安市国家民用航天产业基地航天东路699号军民融合创新园B区9号厂房；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。