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龙图腾网恭喜北京中天星控科技开发有限公司成都分公司申请的专利一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119758046B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510266399.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质是由胡文懿;张涛设计研发完成，并于2025-03-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质，涉及电子器件测试技术领域，包括测试子板，所述测试子板将待测隔离芯片的引脚连接到测试底板上；所述测试底板根据隔离芯片的引脚分布规则设置了最大引脚数量，最大隔离通道数量，隔离通道方向设置为双向；所述测试底板上方连接所述测试子板，下方连接CTA8280F模拟测试机台的资源引出板。测试子板的作用是将不同型号的隔离芯片的引脚连接到测试底板。测试不同型号的隔离芯片只需要更换不同的测试子板，可以减少测试开发的难度和周期。

本发明授权一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种隔离芯片的通用测试方法，其特征在于，包括测试子板，所述测试子板将待测隔离芯片的引脚连接到测试底板上； 所述测试底板根据隔离芯片的引脚分布规则设置了最大引脚数量，最大隔离通道数量，隔离通道方向设置为双向； 所述测试底板上方连接所述测试子板，下方连接CTA8280F模拟测试机台的资源引出板； 所述CTA8280F模拟测试机台的处理终端对待测隔离芯片进行直流参数和交流参数的测试；所述直流参数和交流参数的测试过程包括在CTA8280F模拟测试机台通过资源配置，进行待测隔离芯片的非隔离侧测试和隔离侧测试，其中， 待测隔离芯片的非隔离侧测试为： 直流参数测试，打开非隔离侧直流通道继电器，选择通道数并与浮动源连接进行所有直流参数测试：关闭非隔离侧直流通道继电器，断开与浮动源连接；所述直流参数包含电源电流IDD、输入高电平电压阈值VIH、输入低电平电压阈值VIL、输出高电平电压值VOH、输出低电平电压值VOL； 交流参数测试，打开非隔离侧交流通道继电器，选择通道数并与时间测试板卡连接，进行传输延时和输出波形上升下降的测试，打开非隔离侧通道输出状态配置继电器，选择对应负载状态，进行使能信号到输出信号的传输延时测试；所述交流参数包含最大速率fMAX、传输延时tPLHtPHL、上升沿时间tR、下升沿时间tF、使能传输时间tPZHtPZL、失能传输时间tPHZtPLZ； 待测隔离芯片的隔离侧测试为： 直流参数测试，打开隔离侧直流通道继电器，选择通道数并与浮动源连接进行所有直流参数测试：关闭隔离侧直流通道继电器，断开与浮动源连接；所述直流参数包含电源电流IDD、输入高电平电压阈值VIH、输入低电平电压阈值VIL、输出高电平电压值VOH、输出低电平电压值VOL； 交流参数测试，打开隔离侧交流通道继电器，选择通道数并与时间测试板卡连接，进行传输延时和输出波形上升下降的测试，打开隔离侧通道输出状态配置继电器，选择对应负载状态，进行使能信号到输出信号的传输延时测试；所述交流参数包含最大速率fMAX、传输延时tPLHtPHL、上升沿时间tR、下升沿时间tF、使能传输时间tPZHtPZL、失能传输时间tPHZtPLZ； 所述待测隔离芯片的非隔离侧测试和隔离侧测试操作完毕后，所述CTA8280F模拟测试机台所有资源下电，并与待测隔离芯片引脚断开。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京中天星控科技开发有限公司成都分公司，其通讯地址为：610095 四川省成都市高新区吉泰路20号1号楼2层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。