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龙图腾网恭喜无锡富耘德半导体科技有限公司申请的专利适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119647156B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510174613.5，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统是由麻建国设计研发完成，并于2025-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统在说明书摘要公布了：本发明属于半导体寿命评估领域，涉及数据分析技术，用于解决现有技术无法根据不同类型半导体器件的寿命测试结果进行特征分析，并结合特征分析结果对样品抽取、重点测试参数等环节进行优化的问题，具体是适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统，包括抽样分析模块、均衡评估模块、倾向评估模块以及评估分析模块；抽样分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接，评估分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接；本发明可以对功率半导体器件的评估样品进行抽取，根据不同器件类型在评估周期内的评估测试结果对其评估模式进行标记，从而在下一评估周期内可以对加速模型进行合理化分配。

本发明授权适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统在权利要求书中公布了：1.适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统，其特征在于，包括抽样分析模块、均衡评估模块、倾向评估模块以及评估分析模块；所述抽样分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接，所述评估分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接； 所述抽样分析模块用于对功率半导体器件的评估样品进行抽取：生成连续的评估周期，将同一批次待评估的功率半导体器件标记为评估对象，从评估对象中随机抽取L1个样品作为测试对象，在第一个评估周期的开始时刻将所有器件类型的评估模式标记为均衡模式；在每个评估周期的结束时刻将器件类型在下一评估周期内的评估模式标记为均衡模式或倾向模式； 所述均衡评估模块用于采用均衡模式对测试对象进行寿命评估分析； 所述倾向评估模块用于采用倾向模式对测试对象进行寿命评估分析； 所述评估分析模块用于对测试对象的寿命测试数据进行评估分析：将未通过对应加速模型模拟的寿命试验测试的测试对象标记为故障对象，将故障对象的数量标记为故障值，将故障值与L1的比值标记为故障系数，通过故障系数对评估对象的寿命评估结果是否合格进行判定； 均衡评估模块采用均衡模式对测试对象进行寿命评估分析的具体过程包括：将测试对象均匀的随机分配到加速模型当中，根据分配的加速模型对测试对象进行寿命测试分析； 倾向评估模块采用倾向模式对测试对象进行寿命评估分析的具体过程包括：将L1与分配系数的乘积标记为加速模型的分配值，按照分配值将测试对象随机分配到加速模型当中，根据分配的加速模型对测试对象进行寿命测试分析。

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