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龙图腾网恭喜美新半导体(天津)有限公司申请的专利一种基于热电堆的设备的自检系统、自检电路及自检方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112098765B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011091394.8，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种基于热电堆的设备的自检系统、自检电路及自检方法是由凌方舟;刘尧;蒋乐跃;储莉玲设计研发完成，并于2020-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于热电堆的设备的自检系统、自检电路及自检方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于热电堆的设备的自检系统、自检电路及自检方法，自检电路包括：电源控制电路，其被配置为施加电压或者电流激励通过热电堆，并在热电堆的温度升高到预设温度时，关闭对热电堆的激励；电压测量电路，其被配置为在电源控制电路关闭对热电堆的激励时，测量热电堆的输出电压的变化曲线；信号处理电路，其被配置为基于热电堆的输出电压的变化曲线计算出热电堆的降温响应时间；基于降温响应时间判定基于热电堆的设备是否合格。与现有技术相比，本发明在自检模式时，提供电压或者电流激励通过热电堆以使其升温，并通过记录和计算出热电堆的降温的响应时间来实现自检的功能，判断芯片的状态。

本发明授权一种基于热电堆的设备的自检系统、自检电路及自检方法在权利要求书中公布了：1.一种基于热电堆的设备的自检电路，其特征在于，其包括： 电源控制电路，其被配置为在进入自检模式时施加电压或者电流激励通过热电堆，以使所述热电堆升温，并在所述热电堆的温度升高到预设温度时，关闭对所述热电堆的激励； 电压测量电路，其被配置为在所述电源控制电路关闭对所述热电堆的激励时，测量所述热电堆的输出电压的变化曲线； 信号处理电路，其被配置为基于所述热电堆的输出电压的变化曲线计算出所述热电堆的降温响应时间；其还被配置为基于所述降温响应时间判定所述基于热电堆的设备是否合格； 所述热电堆的降温响应时间为所述热电堆的时间常数τ，所述热电堆的时间常数τ为：在所述热电堆的输出电压的变化曲线中，所述热电堆的输出电压从最大值衰减到最大值的1e所需要的时间， 所述信号处理电路基于所述热电堆的输出电压的变化曲线计算出将所述热电堆的时间常数τ包括：记录所述热电堆的输出电压从最高点下降到最低点的衰减时间，并基于所述衰减时间计算出所述热电堆的时间常数，其中，所述最高点为所述热电堆处于预设温度时的输出电压值，所述最低点为所述热电堆降至所处的环境温度时的输出电压值。

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