恭喜筏渡(上海)科技有限公司徐文丞获国家专利权
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龙图腾网恭喜筏渡(上海)科技有限公司申请的专利一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114818275B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210346505.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法及装置是由徐文丞;易丛文;夏敏设计研发完成，并于2022-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法，包括：获取与半导体制造相关的目标数据；对所述目标数据进行知识抽取，获得与半导体制造相关的实体，以及其间的关系；以所述实体为节点，以关系为连接边，构建半导体制造相关的目标知识图谱；所述目标知识图谱用于对半导体良率进行分析和或确定半导体良率对应的决策。本发明通过构建的目标知识图谱，实现了半导体制造领域中半导体良率分析和或提升决策的智能化。
本发明授权一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种构建知识图谱用于半导体制造良率分析的方法，其特征在于，包括： 获取与半导体制造相关的目标数据；目标数据包括第一类数据、第二类数据和第三类数据中的至少一种数据，第一类数据包括所述半导体的制造设备相关的和或半导体相关的数值序列；第二类数据包括工程师对所述半导体生产过程中产生的数据进行分析产生的经验文档，第三类数据为所述半导体的制造设备相关的文档，包括所述制造设备的使用说明信息、故障信息以及所述故障对应的修复信息中的一种或多种； 对所述目标数据进行知识抽取，获得与半导体制造相关的实体，以及其间的关系； 以所述实体为节点，以关系为连接边，构建半导体制造相关的目标知识图谱；所述目标知识图谱用于对半导体良率进行分析，和或确定所述半导体良率对应的决策。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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