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龙图腾网恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114331985B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111575064.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备是由赵玥;罗军;吕宏峰;夏皓;王小强设计研发完成，并于2021-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种电子元器件划痕缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取样本电子元器件的样本图像集，其中，样本图像集包括有划痕缺陷的样本图像以及无划痕缺陷的样本图像；基于平均精确度的平均值及样本图像集对划痕缺陷检测模型进行训练，调整划痕缺陷检测模型中的参数，获取训练后的划痕缺陷检测模型；根据训练后的划痕缺陷检测模型，对目标电子元器件进行划痕缺陷检测。采用本方法能够提高划痕缺陷检测模型的检测精度。

本发明授权电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件划痕缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取样本电子元器件的样本图像集，所述样本图像集包括有划痕缺陷的样本图像以及无划痕缺陷的样本图像； 基于平均精确度的平均值及所述样本图像集对划痕缺陷检测模型进行训练，调整所述划痕缺陷检测模型中的参数，获取训练后的划痕缺陷检测模型；所述划痕缺陷检测模型是基于yolov3模型构建的；其中，yolov3模型包括三个预测层，将所述三个预测层分别作为第一尺度预测层、第二尺度预测层及第三尺度预测层，所述第一尺度预测层、所述第二尺度预测层及所述第三尺度预测层各自对应的网格划分尺度依次减小；每一预测层均对应至少一种尺寸的先验框，yolov3模型中的参数包括第二尺度预测层对应的目标先验框尺寸； 其中，所述基于平均精确度的平均值及所述样本图像集对划痕缺陷检测模型进行训练，调整所述划痕缺陷检测模型中的参数，获取训练后的划痕缺陷检测模型，包括： 基于所述第二尺度预测层对应的先验框尺寸及所述第三尺度预测层对应的先验框尺寸确定尺寸范围； 在所述尺寸范围中获取多个取值，将每一取值作为所述目标先验框尺寸的取值，确定所述样本图像集中每一训练样本在每一取值下对应的先验框集合；其中，对于任一取值及任一训练样本，所述任一训练样本在所述任一训练样本下对应的先验框集合包括在所述任一取值下，所述任一训练样本通过所述第一尺度预测层、所述第二尺度预测层及所述第三尺度预测层输出的所有先验框； 从每一训练样本在每一取值下对应的先验框集合中确定每一训练样本在每一取值下对应的预测框，基于每一训练样本在每一取值下对应的预测框，计算所述样本图像集在每一取值下的平均精确度的平均值； 确定最大的平均精确度的平均值对应的取值，并作为所述目标先验框尺寸的最终取值； 根据训练后的划痕缺陷检测模型，对目标电子元器件进行划痕缺陷检测。

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