恭喜北京怀柔实验室金锐获国家专利权
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龙图腾网恭喜北京怀柔实验室申请的专利终端结构和半导体器件获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223024873U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520931736.4,技术领域涉及:H10D30/66;该实用新型终端结构和半导体器件是由金锐;牛喜平;桑玲;李哲洋设计研发完成,并于2025-05-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本终端结构和半导体器件在说明书摘要公布了:本申请提供了一种终端结构和半导体器件,终端结构包括:基底,具有相对的第一表面和第二表面;多个场限环,间隔的位于基底中,场限环具有位于第一表面靠近第二表面一侧的第三表面,场限环和第二表面位于第一表面的同一侧,且场限环和第二表面均具有位于第一表面中的第一正投影;场板,部分场板位于第二表面上并与场限环接触,场板在第一表面上具有第二正投影,第二正投影覆盖至少一个第一正投影。通过使第一正投影位于第二正投影中,可以屏蔽被至少一个场限环的电场,使得被屏蔽电场的场限环的宽度可以在没有电场的影响下做的更宽,进而提升耐压能力。具有该终端结构解决了现有技术中SiCMOSFET耐压能力不足的问题。
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