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龙图腾网获悉深圳新芯智能有限公司申请的专利晶振频偏测试方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119757855B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510223904.9，技术领域涉及：G01R23/02；该发明授权晶振频偏测试方法、装置、设备及介质是由张江波;陈仲才;梁锦旺;梁锦辉;谭业设计研发完成，并于2025-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本晶振频偏测试方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了晶振频偏测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测仪检测得到的波形图像；根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率；根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果；对所述偏差分析结果是否符合所述晶振规格信息进行判断，得到对应的频偏测试结果。上述测试方法，能够通过获取波形图像并结合晶振规格信息，对波形图像与所述参考频率进行分析得到偏差分析结果，从而准确得到是否存在频偏的测试结果，大幅提高了对电路板中晶振进行测试的准确性。

本发明授权晶振频偏测试方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种晶振频偏测试方法，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，其特征在于，所述测试方法包括： 若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测仪检测得到的波形图像； 根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率； 根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果； 对所述偏差分析结果是否符合所述晶振规格信息进行判断，得到对应的频偏测试结果； 所述根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率，包括： 根据所述晶振规格信息中的额定频率及所述频率确定规则中设定的倍率系数计算得到对应的多个备选频率； 从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率； 所述从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率之前，还包括： 获取所述波形图像中各谐波频率的幅值； 确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率； 所述确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率之前，还包括： 计算相邻谐波频率之间的幅值衰减系数； 判断各所述幅值衰减系数是否位于预置的基准区间内； 若各所述幅值衰减系数均位于所述基准区间内，则执行所述确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率的步骤； 若任一所述幅值衰减系数不为于所述基准区间内，生成波形异常的提示信息。

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