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龙图腾网恭喜上海源斌电子科技有限公司申请的专利一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118331834B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410372247.X，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法是由袁永斌设计研发完成，并于2024-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片性能测试数据管理技术领域，具体为一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法，本发明通过对目标电源芯片所开展的所有历史性能测试记录进行数据分析，梳理在开展性能测试过程中，各测试项上的相应测试反馈数据，随测试运行环境信息变更所呈现出的特征规律情况，并且基于上述特征规律情况，评估各测试项的检测关注度，生成测试项序列，通过引导管理人员按照测试项序列开展性能测试的方式，从而实现当目标电源芯片出现性能问题时，能够较快地得到性能异常的结论，提高管理人员对目标电源芯片开展性能检测时的检测效率，能够为出现性能下降现象的目标电源芯片，预留更多进行安全防护措施安排的时间。

本发明授权一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤S1：提取对目标电源芯片所开展的所有历史性能测试记录，汇集目标电源芯片的所有历史性能测试数据；其中，在每一次历史性能测试记录中，对目标电源芯片所执行的测试项均相同；对在执行每一历史性能测试记录时所处的测试运行环境进行特征信息提取； 步骤S2：采集在每一历史性能测试记录中，对应各测试项所得到的测试反馈数据以及相应的测试反馈结论，所述测试反馈结论包括正常和异常； 步骤S3：梳理各测试项上在不同测试反馈结论的历史性能测试记录中，相应测试反馈数据随测试运行环境信息变更所呈现出的特征规律情况； 步骤S4：根据各测试项上的相应测试反馈数据随测试运行环境信息变更所呈现出的特征规律情况，评估所述各测试项的检测关注度； 步骤S5：将各测试项的检测关注度发送至管理终端，辅助管理人员在对目标电源芯片实时开展性能测试的过程中，对各测试项的优先级安排； 所述步骤S4包括： 步骤S4-1：对每一测试项提取得到的每一特征相对记录组所对应的测试运行环境信息变更值进行遍历；对每一测试项，捕捉在相应所有特征相对记录组中出现的最小测试运行环境信息变更值U，将提取得到所述最小测试运行环境信息变更值U的特征相对记录组，设为所述每一测试项的目标记录组； 步骤S4-2：分别在每一测试项的目标记录组中，提取在属于所述每一测试项的第一记录集合的历史性能测试记录中，对应所述每一测试项上的测试反馈数据y1，提取在属于所述每一测试项的第二记录集合的历史性能测试记录中，对应所述每一测试项上的测试反馈数据y2，获取测试反馈数据y1与测试反馈数据y2之间的相似度Q；评估每一测试项所对应的检测关注度δ=1U+Q； 所述步骤S5包括： 步骤S5-1：将所有测试项按照相应检测关注度从大到小进行排序，生成测试项序列； 步骤S5-2：将所述测试项序列发送至管理人员终端，提示管理人员按照所述测试项序列，对目标电源芯片进行性能测试，同时按照所述测试项序列，接收相应的测试反馈数据，得到对应各测试项的测试反馈结论。

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