恭喜杭州领策科技有限公司金浩获国家专利权
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龙图腾网恭喜杭州领策科技有限公司申请的专利点检芯片和集成电路测试系统的点检方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119986337B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510459557.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权点检芯片和集成电路测试系统的点检方法是由金浩;边垚垚设计研发完成，并于2025-04-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本点检芯片和集成电路测试系统的点检方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种点检芯片和集成电路测试系统的点检方法。点检芯片应用于集成电路测试系统；所述集成电路测试系统用于对待检测芯片进行检测；所述点检芯片包括：第一芯片本体以及用于封装第一芯片本体的第一封装结构；通过将点检芯片的第一芯片本体设置的与待检测芯片的第二芯片本体相同，从而避免对点检芯片进行重新制版设计，降低了点检芯片的制造成本，使生产点检芯片更加的便捷。通过将点检芯片的第一封装结构和待检测芯片的第二封装结构对应的封装结构或封装结构与芯片本体的连接关系中至少一种不同，能够在集成电路测试系统进行检测时区分点检芯片和待检测芯片，从而提高集成电路测试系统的检测精度以及检测效率。
本发明授权点检芯片和集成电路测试系统的点检方法在权利要求书中公布了：1.一种点检芯片，其特征在于，应用于集成电路测试系统；所述集成电路测试系统用于对待检测芯片进行检测；所述点检芯片包括：第一芯片本体以及用于封装第一芯片本体的第一封装结构； 所述点检芯片的所述第一芯片本体与所述待检测芯片的第二芯片本体相同； 所述点检芯片的所述第一封装结构与所述待检测芯片的第二封装结构，在封装结构或封装结构与芯片本体的连接关系中至少一种不同。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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