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中国科学院微电子研究所张立军获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114674855B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011552554.4,技术领域涉及:G01N23/20;该发明授权利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法及装置是由张立军;钱祎剑;王冠鹰;陈灵新设计研发完成,并于2020-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法及装置在说明书摘要公布了:本发明涉及一种利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法及装置,属于核检测技术领域,解决了现有技术检测分辨重核材料耗时长、效率低的问题。该方法包括以下步骤:基于多种目标材料的Muon子库伦散射角数据集,分别分析获取多种目标材料的Muon子探测数据特征集;对多种所述目标材料的Muon子探测数据特征集进行分类训练,获得分类模型;利用所述分类模型对待检测材料进行检测,以确定所述待检测材料中是否存在重核物质。该方法能够在不同的重核材料检测场景中,快速检测出空间内是否存在重核物质。

本发明授权利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种利用宇宙射线Muon子快速检测重核材料的方法,其特征在于,包括以下步骤: 基于多种目标材料的Muon子库伦散射角数据集,分别分析获取多种目标材料的Muon子探测数据特征集; 对多种所述目标材料的Muon子探测数据特征集进行分类训练,获得分类模型; 利用所述分类模型对待检测材料进行检测,以确定所述待检测材料中是否存在重核物质; 分别分析获取多种目标材料的Muon子探测数据特征集包括获取空气的Muon子库伦散射角数据集;基于空气的Muon子库伦散射角数据集和每一目标材料的Muon子库伦散射角数据集,获取每一目标材料的Muon子探测数据集;基于每一所述目标材料的Muon子探测数据集,计算获得每一目标材料的Muon子探测数据特征集; 所述获取每一目标材料的Muon子探测数据集,包括: 随机抽取步骤:从每一目标材料的Muon子库伦散射角数据集中随机抽取第一预设个数的Muon子库伦散射角;从空气的Muon子库伦散射角数据集中随机抽取第二预设个数的Muon子库伦散射角;在所述第一预设个数和第二预设个数保持不变的情况下,多次执行随机抽取过程,获取第一探测数据组; 按照预设步长、在预设范围内多次调整所述第一预设个数与第二预设个数的比值,根据每次调整获得的新的比值,重复执行所述随机抽取步骤,获取多个对应不同所述比值的探测数据组; 所述第一探测数据组和所述多个对应不同所述比值的探测数据组构成了所述每一目标材料的Muon子探测数据集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院微电子研究所,其通讯地址为:100029 北京市朝阳区北土城西路3号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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