长迈半导体(成都)有限公司苗文龙获国家专利权
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龙图腾网获悉长迈半导体(成都)有限公司申请的专利一种预推机构及老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223123081U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422170992.4，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种预推机构及老化测试装置是由苗文龙;李博文;高光辉;祁鹏鹏设计研发完成，并于2024-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种预推机构及老化测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型涉及一种预推机构及老化测试装置。该预推机构包括：机架，具有一用于收容承载架的收容空间，承载架用于装载老化测试板；及预推单元，包括预推组件和驱动组件，预推组件活动连接在机架上且具有推杆，驱动组件与预推组件驱动连接，用于驱动预推组件相对机架运动，以带动推杆将承载架上的老化测试板抵推至预设位置。如此，避免承载架上存在未到位的老化测试板，确保对插机构能够准确地将各个老化测试板对插至测试机构上的各个插接头上，避免出现对插机构勾拉不到老化测试板或老化测试板滑落等现象。
本实用新型一种预推机构及老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种预推机构，其特征在于，包括： 机架10，具有一用于收容承载架200的收容空间，所述承载架200用于装载老化测试板300；及 预推单元20，包括预推组件21和驱动组件23，所述预推组件21活动连接在所述机架10上，且具有推杆213；所述驱动组件23与所述预推组件21驱动连接，用于驱动所述预推组件21相对所述机架10运动，以带动所述推杆213将所述承载架200上的老化测试板300抵推至预设位置。
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