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龙图腾网获悉丹东百特仪器有限公司申请的专利一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112067511B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011077656.5，技术领域涉及：G01N15/0205；该发明授权一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法是由李晓光;李晓旭;宁辉;刘岳强;陈权威;郑浩;孙健设计研发完成，并于2020-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一~二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一~二数据采集卡将信号传输至控制单元；方法为：控制单元控制透镜组聚焦点位置在样品池中间位置处；检测器收集原始散射光信号；计算互相关曲线；找出最高曲线效率对应的位置点；控制单元移动透镜到最高曲线效率对应的位置点；进行互相关计算得到样品颗粒的扩散系数，通过斯托克斯爱因斯坦方程得到颗粒的粒径。本发明真正实现了对于高浓度高浊度样品的准确检测，并进一步增进了快相关计算能力。

本发明授权一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法，其特征在于：纳米粒度仪包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一~二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一~二数据采集卡将信号传输至控制单元； 还具有微处理器，其信号输入端接收控制单元的指令，输出端输出控制信号接至马达控制回路中； 两个检测器对称设置于激光器的入射激光光束两侧，分别通过光纤接收由透镜组捕捉到的样品散射光； 所述透镜组通过透镜组支架安装于马达上； 包括以下步骤： 1）控制单元控制马达移动，使透镜组聚焦点位置在样品池中间位置处； 2）通过检测器收集原始散射光信号； 3）计算互相关曲线，得到曲线效率并记录； 4）判断聚焦点位置是否距样品池壁为规定距离； 5）如果为规定距离，则比较不同聚焦位置互相关曲线效率，找出最高曲线效率对应的位置点； 6）控制单元控制马达移动透镜到最高曲线效率对应的位置点； 7）通过检测器再次收集原始散射光信号； 8）进行互相关计算，得到互相关曲线； 9）通过互相关曲线得到样品颗粒的扩散系数，进而通过斯托克斯爱因斯坦方程得到颗粒的粒径。

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