东莞市台易电子科技有限公司涂炳超获国家专利权
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龙图腾网获悉东莞市台易电子科技有限公司申请的专利一种探针测试设备及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120214546B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510663165.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种探针测试设备及测试方法是由涂炳超;肖荣辉;梁家明;廖永仲;闵玉迪;王卫锋设计研发完成，并于2025-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种探针测试设备及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及探针测试技术领域，公开了一种探针测试设备及测试方法，该方法包括：对多个芯片测试探针在接触芯片过程中的电信号响应特性进行同步采集并分析探针间信号传递干扰关系，得到多探针信号耦合特征图；识别目标信号传递通道，得到第一测试探针配置方案；对芯片进行测试信号输入和响应采集，得到芯片电气特性时频数据；对芯片电气特性时频数据进行多探针协同分析和特征提取，得到芯片电气性能异常指示信息并调整多个芯片测试探针的测试参数和接触位置，得到第二测试探针配置方案，本发明建立了基于测试反馈的自适应优化机制，使测试系统能够根据初步测试结果智能调整后续测试策略，实现了测试过程的智能化和自动化。
本发明授权一种探针测试设备及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种探针测试方法，其特征在于，包括： 对多个芯片测试探针在接触芯片过程中的电信号响应特性进行同步采集并分析探针间信号传递干扰关系，得到多探针信号耦合特征图； 利用所述多探针信号耦合特征图识别目标信号传递通道，得到第一测试探针配置方案； 通过所述第一测试探针配置方案对芯片进行测试信号输入和响应采集，得到芯片电气特性时频数据； 对所述芯片电气特性时频数据进行多探针协同分析和特征提取，得到芯片电气性能异常指示信息并调整所述多个芯片测试探针的测试参数和接触位置，得到第二测试探针配置方案。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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