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申请/专利权人：爱科来株式会社
申请日：2004-10-19
公开（公告）日：2009-04-08
公开（公告）号：CN100476423C
专利技术分类：..系统（G01N27/27优先）[2006.01]
专利摘要：本发明涉及利用输出与分析用具2的输出相关的物理量的二重积分电路11，进行试样分析的技术。在本发明中，从向二重积分电路11中输入分析用具的输出开始到从二重积分电路11开始输出物理量之间的时间间隔，在确认向分析用具2供给试样的前后是不同的。
专利权项：1.一种试样分析方法，其特征在于，该方法包括：基于从具有作用电极、对电极和试剂部的分析用具的输出，确认向所述分析用具供给试样的第一步骤；从确认向所述分析用具供给试样开始到经过一定时间的期间，对所述分析用具的输出水平进行包含所述一定时间经过时的一次以上的掌握的第二步骤；以及基于在所述一定时间经过期间从所述分析用具的输出，进行试样分析所需要的计算的第三步骤，在所述第一步骤和第二步骤中对从所述分析用具的输出的掌握，是基于将所述分析用具的输出向二重积分电路输入时的所述二重积分电路的输出进行的，在所述第一步骤中，每隔第一特定时间，即从向所述二重积分电路的输入开始到从所述二重积分电路的输出结束为止的时间，重复掌握从所述二重积分电路输出的水平，在所述第二步骤中，在掌握所述二重积分电路的输出水平时，将第二特定时间，即从向所述二重积分电路的输入开始到从所述二重积分电路的输出结束为止的时间，设定为比所述第一特定时间长。
百度查询： 爱科来株式会社 试样分析方法及试样分析装置
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