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申请/专利权人：珠海昇生微电子有限责任公司
摘要：本发明涉及一种基于多块FPGA进行ICscanchain电路测试的方法，采用级联扩容的思想，解决单个FPGA作为SCANCHAINpattern的存储实体时存储资源不足的问题，通过自定义的FPGA间的通信握手方式，下一级FPGA可以知道上一级FPGA已完成测试，需要启动本级FPGA工作，并在本级FPGA测试完毕后，通知再下一级FPGA开始工作，本发明采用串联链工作原理，实现了庞大的SCANCHAIN测试向量测试。
主权项：1.一种基于多块FPGA进行ICscanchain电路测试的方法，其特征在于，所述方法包括：第一台FPGA设备向待测试设备的ICscanchain电路发出测试请求；待测试设备的ICscanchain电路响应该测试请求后，第一台FPGA设备进行测试向量的测试，待第一台FPGA设备的测试向量测试完毕时，第一台FPGA设备发送启动信号给第二台FPGA设备，第二台FPGA设备响应并返回握手成功信号给第一台FPGA设备，同时，第二台FPGA设备通过第一台FPGA设备发送测试向量给待测试设备的ICscanchain电路继续测试；待第二台FPGA设备的测试向量测试完毕时，向第三台FPGA设备发送启动信号，第三台FPGA设备响应并返回握手成功信号给第二台FPGA设备，第三台FPGA设备依次通过第二、第一台FPGA设备发送测试向量给待测试设备的ICscanchain电路，继续测试，以此类推，直到第N台FPGA设备的测试向量测试完毕，其中，N的取值由待测试设备的ICscanchain电路的大小决定。
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权利要求：
百度查询： 珠海昇生微电子有限责任公司 一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法
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