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一种具有可变样本容量残差EWMA控制图的设计方法 

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申请/专利权人:郑州航空工业管理学院

摘要:本发明涉及一种具有可变样本容量残差EWMA控制图的设计方法,本发明针对当下对残差EWMA控制图的设计方法大多是静态设计,控制图的监控效率有待改善的问题,通过选用时间序列模型拟合自相关数据、构建统计量、构建残差EWMA控制图、构建可变样本容量的残差EWMA控制图、计算控制图的平均运行长度,从而对控制图的监控效率进行评价,本发明提出一种残差EWMA控制图的可变样本容量设计方法。能够更快地发现过程的异常波动,可以对过程的变异及时进行纠正,确保生产过程恢复稳定状态,对残差EWMA控制图进行可变样本容量设计,从而减小废品率,降低生产成本,提高生产效率。

主权项:1.一种具有可变样本容量残差EWMA控制图的设计方法,其特征在于,包括以下几个步骤:步骤一:选用时间序列模型拟合自相关数据;采用AR1模型拟合自相关过程,建立AR1模型:Xt为观测值序列,是自相关系数,且εt是随机误差项;计算序列预测值:是Xt的预测值,残差为步骤二:构建统计量;残差序列Ri1,Ri2,…Rin为样本容量为n的相互独立的随机变量序列,其中则残差均值的EWMA控制图统计量Zt为:步骤三:构建残差EWMA控制图:统计量的期望为EZ=μz=μR=0统计量方差为残差EWMA控制图的控制限: 其中k为控制限系数,λ为平滑系数;步骤四:构建可变样本容量的残差EWMA控制图;VSS残差EWMA控制图的控制线如下: 其中k为控制限系数,ω为警戒限系数,且0<ω<k,λ为平滑系数。

全文数据:

权利要求:

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