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申请/专利权人：北京航天测控技术有限公司
摘要：本发明公开了一种基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置，所述方法包括：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于STIL标准的第一测试数据；对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于STDF标准的第三测试数据。本发明可实现芯片测试统一标准。
主权项：1.一种基于STIL技术的芯片自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于STIL标准的第一测试数据；对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于STDF标准的第三测试数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京航天测控技术有限公司 基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置
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