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申请/专利权人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要:本发明提供的一种高光谱分辨率的offner成像光谱仪,采用折转反射镜使得空间分布合理,可以合理分布探测器、狭缝以及邻近的透镜;衍射光栅部分因为其刻线密度较大而拥有了更高的分辨率,达到高精度观测的目标;探测器即像面与狭缝位于光栅同一侧,意味着光谱仪内光路较为对称,使得自身像差得以一定的校正,最终使整体的MTF接近衍射极限;本发明高光谱分辨率的offner光谱仪光谱分辨率为0.05nm,远优于一般offner光谱仪1nm的光谱分辨率;若需要继续加大分辨能力只需调整衍射光栅参数以及狭缝和探测器位置即可。
主权项:1.一种高光谱分辨率的offner成像光谱仪,其特征在于,包括狭缝1、折转反射镜2、放大透镜3、反射镜4、衍射光栅5以及探测器6;入射光经由狭缝1进入过折转反射镜2,光线被折转至放大透镜3,经放大透镜3放大,进入反射镜4,再将光线反射至衍射光栅5,通过衍射光栅5后再依次经反射镜4和放大透镜3,最终由探测器6接收;其中,衍射光栅5的刻线密度可调整;探测器6和狭缝1位置可调整。
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权利要求:
百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种高光谱分辨率的offner成像光谱仪
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