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申请/专利权人：四川云盾光电科技有限公司
摘要：本发明公开了一种基于材料表明纹理特征的移动精密测量方法及装置，方法包括：低分辨率图像传感器实时输出转轴的位移参数，基于位移参数进行速度判定，在达到满足高分辨率清晰成像速度后，高分辨率图像传感器开始对转轴进行拍摄，获取高分辨率图像；从高分辨率图像中提取待分析区域；计算待分析区域的不变矩以及其区域特征点在高分辨率图像上的空间坐标；基于空间坐标与预先存储的位置数据进行比较，获得区域特征点的偏移值，经修正后，即获得区域特征点的绝对位置参数。本发明直接使用转轴表面形成的自然纹理，无需使用额外且昂贵的光栅器件，同时省去了光栅安装和调试的过程，尤其对于大直径轴，使用便捷。
主权项：1.一种基于材料表明纹理特征的移动精密测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：低分辨率图像传感器实时输出转轴的位移参数，基于所述位移参数进行速度判定，在达到满足高分辨率清晰成像速度后，高分辨率图像5传感器开始对转轴进行拍摄，获取高分辨率图像；步骤2：从所述高分辨率图像中提取待分析区域；步骤3：计算所述待分析区域的不变矩以及其区域特征点在所述高分辨率图像上的空间坐标；步骤4：基于所述空间坐标与预先存储的位置数据进行比较，获得所述0区域特征点的偏移值，经修正后，即获得所述区域特征点的绝对位置参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 四川云盾光电科技有限公司 一种基于材料表明纹理特征的移动精密测量方法及装置
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