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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：TDICMOS的调制传递函数测试方法，涉及TDICMOS测试技术领域，解决现有TDICMOS探测器的调制传递函数测试中，难以识别判读有用的图像数据的问题，本发明先采用面阵工作模式进行探测器与目标相对姿态位置的调整，然后再切换到线阵工作模式。TDICMOS探测器的栅转移控制信号在电荷转移阶段正常输出，而在曝光阶段禁止输出；数据有效信号在有栅转移控制信号时输出周期性的高低电平信号，否则为恒定的电平。全色和多光谱的电荷转移级数设置为可用的最大级数，循环帧周期长度为整数倍关系。保证全色和多光谱图像同步传输，接收到的各帧图像中全色和多光谱图像都是相对稳定的。
主权项：1.TDICMOS的调制传递函数测试方法，其特征是：该方法由以下步骤实现：步骤一、相机控制器通过422通信控制信号对成像控制器进行控制，使其工作在面阵工作模式；动态目标发生器处于静止状态，对TDICMOS探测器进行姿态和位置调整并进行静态调制传递函数的测量，最终调整到传递函数值达到最大值的位置；步骤二、相机控制器通过422通信控制信号对成像控制器进行控制，使其工作在线阵工作模式；动态目标发生器根据TDICMOS探测器的行周期设置旋转速度，然后基于刃边法进行动态传递函数的测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 TDICMOS的调制传递函数测试方法
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