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申请/专利权人：中国科学院大学
摘要：一种基于耦合Mie共振的偏振态测量方法，由不同尺寸的介质颗粒沿纵向排列组成对称结构的多聚体探测装置，在外界环境背景不变的情况下，不同尺寸的介质微粒在入射波激发下在不同频段产生不同级次的Mie谐振耦合，当入射波的偏振方向与多聚体探测装置纵轴的夹角θ发生变化时，其特征峰的谐振频率和谐振强度都会随夹角变化而发生周期性有规律变化；在入射波固定时，通过旋转多聚体探测装置，根据特征峰的谐振频率和谐振强度随夹角θ的变化来准确判定入射波的偏振态，实现对入射波偏振态的准确测量和实时监测。该方法灵敏度高，可以精确测量入射光的偏振态。
主权项：1.一种基于耦合Mie谐振的偏振态测量方法，其特征是：由不同尺寸的介质微粒沿纵向排列组成亚波长尺度的对称结构的多聚体探测装置；在外界环境背景不变和探测装置固定的情况下，不同尺寸的介质微粒在入射波激发下在不同频段产生不同级次的Mie谐振，邻近的介质颗粒之间发生谐振能量耦合和近场增强，造成最强电偶极子谐振峰的谐振频率和谐振强度随入射波偏振态的变化产生强烈响应：当入射波的偏振方向与多聚体探测装置纵轴的夹角θ发生变化时，其谐振频率和谐振强度都会随夹角变化而发生周期性有规律变化；在入射波固定时，通过旋转多聚体探测装置，根据谐振频率和谐振强度随夹角θ的变化规律来准确判定入射波的偏振态，实现对入射波偏振态的准确测量和实时监测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院大学 一种基于耦合Mie谐振的偏振态测量方法
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