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申请/专利权人：苏州忆联信息系统有限公司
摘要：本申请涉及一种基于固态硬盘的TLC顺序写性能测试验证方法、系统、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取TLC顺序写性能测试请求，对待测固态硬盘进行安全擦除；通过性能测试工具对待测固态硬盘进行第一次全盘顺序写；计算第一次全盘顺序写中SLC存储空间总大小；计算第一次全盘顺序写中总数据量大小；判断计算得到的SLC存储空间总大小与第一次全盘顺序写中总数据量大小的差值是否超过预设的阈值；若未超过预设的阈值则通过性能测试工具进行第二次全盘顺序写，TLC顺序写性能为第二次顺序写性能中最后一段时间内写性能的平均值。本发明可以高效且高精度的获取待测固态硬盘的TLC顺序写性能，有效地提高了TLC顺序写性能的测试覆盖面，并客观地给出每版固件在调优阶段的功耗评价。
主权项：1.一种基于固态硬盘的TLC顺序写性能测试验证方法，所述方法包括：获取TLC顺序写性能测试请求，对待测固态硬盘进行安全擦除；通过性能测试工具对待测固态硬盘进行第一次全盘顺序写；计算第一次全盘顺序写中SLC存储空间总大小；计算第一次全盘顺序写中总数据量大小；判断计算得到的SLC存储空间总大小与第一次全盘顺序写中总数据量大小的差值是否超过预设的阈值；若未超过预设的阈值则通过性能测试工具进行第二次全盘顺序写，TLC顺序写性能为第二次顺序写性能中最后一段时间内写性能的平均值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州忆联信息系统有限公司 基于固态硬盘的TLC顺序写性能测试验证方法和系统
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