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申请/专利权人：安徽金力电气技术有限公司
摘要：本发明涉及SPD浪涌防护技术领域，具体为一种基于温度检测判断SPD老化的方法及系统。方法包括以下具体步骤：S1、根据历史数据获取SPD在第一次至第n次过电压状态下的温度时间变化率；S2、对待监测的SPD芯片实时进行温度检测，确定待监测的SPD芯片的实际温度Tems；S3、判断待监测的SPD是否有过电压信号；S4、若有过电压信号则计算SPD的实际升温时间以及实际的温度时间变化率；S6、通过温度时间变化率判断SPD是否失效。系统包括MCU、数据处理模型、测温模块、数据处理计算模块、判断模块和电子脱离机构。本发明能精准的判断SPD是否达到失效条件，以提高其利用率。
主权项：1.一种基于温度检测判断SPD老化的方法，其特征在于，包括以下具体步骤：S1、根据历史数据计算得到SPD在第一次至第n次过电压状态下的温度时间变化率：ΔT1、ΔT2、......ΔTn,其中，n≥1；S2、对待监测的SPD芯片实时进行温度检测，确定待监测的SPD芯片的实际温度Tems；S3、判断待监测的SPD是否有过电压信号；若否，则继续执行S2；若是，则继续执行S4；S4、获取SPD在过电压状态初始时的实际温度Tems、SPD在过电压状态下的最高温度值Tzg、从实际温度Tems达到最高温度值Tzg的时间tsj1以及SPD的过电压次数N,其中，N≥1；S5、根据SPD所处环境的当前环境温度Thj调取环境温度修正系数λQ，计算SPD的实际升温时间tsj2以及SPD在过电压状态下实际的温度时间变化率ΔTsjN：tsj2=tsj1×λQ；ΔTsjN=（Tzg-Tems）tsj2；S6、判断SPD当前过电压次数N下的ΔTsjN与根据历史数据得到的第n次过电压状态下的温度时间变化率ΔTn的大小，其中，n的数值与N的数值相同；若，ΔTsjN＜ΔTn，则说明SPD没有失效；继续执行S2；若，ΔTsjN≥ΔTn，则说明SPD失效；继续执行S7；S7、判断SPD是否已经脱扣失效；若是则检测结束；若否，则启动电子脱离机构使SPD脱扣失效。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽金力电气技术有限公司 一种基于温度检测判断SPD老化的方法及系统
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