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申请/专利权人：北京力通通信有限公司

摘要：本发明公开了射频收发芯片批量并发快速测试系统，包括：上位机；下位机，其与上位机通信连接，下位机上设有多核处理器和8个芯片槽，每个芯片槽通过独立的接口与多核处理器连接，并设有独立的IO通道和数据存储区域；机械臂，其与上位机连接，机械臂用于自动向下位机的芯片槽内取放射频芯片；其中，上位机与下位机之间的通信交互接口是16根IO线，且上位机与下位机之间通过私有通信交互协议进行通信；以及，应用在该测试系统上的射频收发芯片批量并发快速测试方法。本发明的测试系统及方法可一次性同时并发测试8个待测芯片并可对硬件故障进行隔离，提高了批量测试的安全性和可靠性。

主权项：1.射频收发芯片批量并发快速测试系统，其特征在于，包括：上位机，其用于下发测试任务并评判返回的测试项结果；下位机，其与所述上位机通信连接，所述下位机上设有多核处理器和8个芯片槽，所述8个芯片槽分别通过独立的接口与所述多核处理器连接，并设有独立的IO通道和数据存储区域，所述8个芯片槽分别递增编号标注为“第0路待测芯片~第7路待测芯片”，所述下位机用于根据所述上位机下发的测试任务对插入芯片槽内的射频芯片进行并发测试并将测试项结果反馈给所述上位机；机械臂，其与所述上位机连接，所述机械臂用于自动向所述下位机的芯片槽内放置射频芯片或将芯片槽内放置的射频芯片取出；其中，所述上位机与下位机之间的通信交互接口是16根IO线，且所述上位机与下位机之间通过私有通信交互协议进行通信；所述私有通信交互协议是按照约定格式构造的16bit数，每个bit的1、0分别对应于一根IO线的高、低电平，所述约定格式包括测试任务下发格式、测试结果反馈格式和质量批次号传输格式；所述测试任务下发格式为高8bit的片选号s、次1个bit的任务类型t、低7bit的任务号n，片选号s的第0~7bit分别对应于“第0路待测芯片~第7路待测芯片”，t为0时代表任务类型是测试，n代表测试项编号；所述测试结果反馈格式为高3bit的芯片槽编号q、次6bit的错误码e、低7bit的任务号n；所述质量批次号传输格式为高8bit的片选号s、次1个bit的任务类型t、低7bit的质量批次号c，t为1时代表任务类型为写入芯片质量批次号；所述8个芯片槽共用电源且每个芯片槽被所述多核处理器单独控制掉电或上电；所述上位机中设有包含要执行的测试项、各测试项执行顺序、各测试项结果指标的自动化测试脚本；所述下位机搭载的多核处理器内设有用于实现硬件控制逻辑、控制时序的FPGA模块，和用于并发调度测试任务、解析信号、读写缓存数据、响应中断的嵌入式测试软件，所述测试软件在第一次上电时自动创建的8个线程，每个线程独立执行唯一一路对应的待测芯片的测试任务，且每个线程分别与所述多核处理器的不同核进行绑定；所述上位机根据测试任务，按照所述私有通信交互协议的测试任务下发格式构造16bit数x，所述x通过所述16根IO线以IO信号的形式由所述上位机下发给所述下位机，所述下位机运行的FPGA控制模块感测到该IO信号后实时触发IO中断并将所述x写入用于交互的指定寄存器中，所述下位机运行的嵌入式测试软件进入IO中断处理程序读取该寄存器中的所述x并拆解出片选号s、任务类型t、任务号n后清除中断标志，并对所述片选号s对应的多路待测芯片并发执行所述任务类型t和任务号n对应的测试项任务；所述下位机根据测试结果，按照所述私有通信交互协议的测试结果反馈格式构造16bit数y，通过所述16根IO线将所述y反馈给所述上位机，所述上位机从所述y中拆解出芯片槽编号q、错误码e和任务号n，获得对应待测芯片的测试项测试结果；所述上位机在收到片选号s对应的多路待测芯片在任务类型t、任务号n对应的测试项下的所有测试结果后才会下发新的测试任务；所述上位机中内置有错误列表，所述上位机从所述下位机反馈的测试结果中拆解出错误码e和芯片槽编号q，根据错误码e从所述错误列表中查找并确定错误类型，若错误类型为硬件类故障，则通过所述多核处理器控制该错误码对应的该路待测芯片掉电，并将该路待测芯片对应的片选号的bit位永久置0，所述上位机不再下发或接收对该路待测芯片的任何测试任务，且所述上位机控制的机械臂在替换新的待测芯片时也不再往该路待测芯片对应的芯片槽中放置新的芯片。

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