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柱状透镜设计方法、柱状透镜及柱状透镜阵列专利

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申请/专利权人:威海华菱光电股份有限公司

申请日:2024-04-09

公开(公告)日:2024-06-07

公开(公告)号:CN118151376A

专利技术分类:

专利摘要:本申请提供一种柱状透镜设计方法、柱状透镜及柱状透镜阵列,所述设计方法用于设计高分辨率低色差的柱状透镜,包括以下步骤:S1,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标及亮度指标确定柱状透镜的开口角约束条件,其中,所述集成度指标包括柱状透镜的高度范围、物距范围及共轭距范围,所述成像效果指标包括柱状透镜在指定分辨率下的MTF指标以及重叠度指标;S2,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标及开口角约束条件确定柱状透镜的半径;S3,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标、半径及色差指标确定柱状透镜的折射率参数。通过本申请技术方案设计的柱状透镜能够满足较短工作距离及FDC光下的高分辨率低色差成像需要。

专利权项:1.一种柱状透镜设计方法,用于设计高分辨率低色差的柱状透镜,其特征在于,包括以下步骤:S1,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标及亮度指标确定柱状透镜的开口角约束条件,其中,所述集成度指标包括柱状透镜的高度范围、物距范围及共轭距范围,所述成像效果指标包括柱状透镜在指定分辨率下的MTF指标以及重叠度指标;S2,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标及开口角约束条件确定柱状透镜的半径;S3,基于柱状透镜的集成度指标、成像效果指标、开口角约束条件、半径及色差指标确定柱状透镜的折射率参数。

百度查询: 威海华菱光电股份有限公司 柱状透镜设计方法、柱状透镜及柱状透镜阵列

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