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申请/专利权人:北京无线电计量测试研究所
摘要:本申请公开了一种二端口微波器件相移测量方法,包括以下步骤:射频信号经过功分器后分为两个通道;在通道1中,射频信号经过被测二端口微波器件后,混频输出第1路中频信号,在通道2中,射频信号经混频后输出第2路中频信号,对两路中频信号进行相位比较,获得被测二端口微波器件的相移。本申请还公开了用于实现所述方法的装置。本申请的技术方案可以验证矢量网络分析仪的相移测量结果,解决矢量网络分析仪的相移测量结果无法准确溯源及验证的问题。
主权项:1.一种二端口微波器件相移测量方法,其特征在于,包括以下步骤:射频信号经过功分器后分为两个通道;在通道1中,射频信号经过被测二端口微波器件后,混频输出第1路中频信号;在通道2中,射频信号经混频后输出第2路中频信号;对两路中频信号进行相位比较,获得被测二端口微波器件的相移。
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百度查询: 北京无线电计量测试研究所 一种二端口微波器件相移测量方法和装置
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