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申请/专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
摘要：本发明提供一种待测超导器件物性测试装置及测试方法，待测超导器件物性测试装置包括：上位机、源表、开关切换模块和N通道低通滤波阵列；其中N为大于1的自然数；上位机电连接源表的控制端和开关切换模块的控制端；上位机控制源表输出相应的激励信号范围，并控制开关切换模块选择对应工作通道；源表与开关切换模块电连接，开关切换模块通过N通道低通滤波阵列电连接到对应的测试端口；源表输出的激励信号范围传输至待测超导器件，待测超导器件反馈的测试信号传输至源表。本发明能够达到低电流输入测试，同时也可以实现低噪声，使得测试的精度进一步提高，提高低温测试效率；同时还极大减小了测试过程中低温的液氦和液氮等冷质的浪费，降低成本。
主权项：1.一种待测超导器件物性测试装置，其特征在于，所述待测超导器件物性测试装置包括：上位机、源表、开关切换模块和N通道低通滤波阵列；其中N为大于1的自然数；所述上位机电连接所述源表的控制端和所述开关切换模块的控制端；所述上位机控制所述源表输出相应的激励信号范围，并控制所述开关切换模块选择对应工作通道；所述源表与所述开关切换模块电连接，所述开关切换模块通过所述N通道低通滤波阵列电连接到对应的测试端口；所述源表输出的激励信号范围传输至所述待测超导器件，所述待测超导器件反馈的测试信号传输至所述源表。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种待测超导器件物性测试装置及测试方法
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